| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-19页 |
| ·研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究概况 | 第9-10页 |
| ·光谱诊断的基本理论基础 | 第10-17页 |
| ·等离子体判据 | 第10-11页 |
| ·等离子体的空间特征尺度 | 第11页 |
| ·等离子体的时间特征尺度 | 第11页 |
| ·等离子体参量∧ | 第11页 |
| ·等离子体测量的热力学基础 | 第11-12页 |
| ·等离子体局部热力学平衡的判据 | 第12-13页 |
| ·等离子体温度的发射光谱法诊断及其应用 | 第13-17页 |
| ·双谱线法 | 第13-14页 |
| ·多谱线斜率法 | 第14-15页 |
| ·等电子谱线法 | 第15-16页 |
| ·Saha-Boltzmann法 | 第16-17页 |
| ·谱线绝对强度法 | 第17页 |
| ·本论文的主要研究工作 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 2 SCB及其等离子体的形成、特征研究 | 第19-26页 |
| ·SCB结构 | 第19-20页 |
| ·SCB桥区表面形貌 | 第20-21页 |
| ·SCB等离子体的形成 | 第21-22页 |
| ·SCB等离子体的时空特征 | 第22-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 3 SCB等离子体温度的原子发射光谱双谱线法诊断研究 | 第26-35页 |
| ·测温原理 | 第26-28页 |
| ·SCB等离子体的重要假设—局部热力学平衡 | 第28页 |
| ·SCB等离子体的发射光谱 | 第28-29页 |
| ·影响温度测量准确度的因素 | 第29-30页 |
| ·连续光谱背景 | 第29页 |
| ·谱线干扰 | 第29页 |
| ·跃迁几率A值 | 第29-30页 |
| ·波长、光谱强度测量准确度的影响 | 第30页 |
| ·谱线的选择 | 第30-31页 |
| ·原子发射光谱双谱线法测温系统 | 第31-34页 |
| ·测温装置简介 | 第31-33页 |
| ·测温系统的校正 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 4 SCB等离子体温度的测试及其实验研究 | 第35-57页 |
| ·基本原理 | 第35-36页 |
| ·实验装置 | 第36-37页 |
| ·脉冲放电激发SCB产生等离子体的装置 | 第36-37页 |
| ·恒压直流放电激发SCB产生等离子体的装置 | 第37页 |
| ·试验方法 | 第37-38页 |
| ·结果与讨论 | 第38-55页 |
| ·脉冲放电作用于A型SCB激发产生等离子体的试验研究 | 第39-45页 |
| ·不同放电条件下等离子体谱线强度的时间分辨 | 第39-40页 |
| ·等离子体温度与谱线强度的关系 | 第40-41页 |
| ·等离子体温度与放电电压的关系 | 第41页 |
| ·等离子体温度与放电电容的关系 | 第41-42页 |
| ·等离子体温度与脉冲能量的关系 | 第42-44页 |
| ·等离子体后期放电开始的时间与放电条件的关系 | 第44页 |
| ·后期放电开始时等离子体温度与放电条件的关系 | 第44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| ·脉冲放电作用于B型、C型SCB激发产生等离子体的试验研究 | 第45-50页 |
| ·不同放电电压下谱线强度的时间分辨 | 第45-46页 |
| ·等离子体温度与放电电压的关系 | 第46-47页 |
| ·等离子体温度与脉冲能量的关系 | 第47-49页 |
| ·等离子体后期放电开始的时间与放电电压的关系 | 第49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| ·直流放电作用于B型SCB激发产生等离子体的试验研究 | 第50-51页 |
| ·谱线强度随放电电压的时间分辨 | 第50-51页 |
| ·等离子体温度与放电电压的关系 | 第51页 |
| ·小结 | 第51页 |
| ·影响温度测量精度的可能性因素分析 | 第51-55页 |
| ·温度测量实验精度的分析 | 第52-54页 |
| ·影响温度测量的因素分析 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 5 结论与展望 | 第57-59页 |
| ·结论 | 第57-58页 |
| ·展望 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第67页 |
