摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
符号对照表 | 第12-13页 |
缩略语对照表 | 第13-17页 |
第一章 绪论 | 第17-25页 |
1.1 选题意义及应用背景 | 第17-18页 |
1.2 研究现状 | 第18-20页 |
1.2.1 DigRF发展现状 | 第18-19页 |
1.2.2 DigRFv4与DigRFv3.09比较 | 第19-20页 |
1.3 集成电路量产测试简介 | 第20-23页 |
1.3.1 量产测试必要性与经济性 | 第20页 |
1.3.2 量产测试分类 | 第20-21页 |
1.3.3 试验用到的测试工具介绍 | 第21-23页 |
1.4 论文内容安排 | 第23-25页 |
第二章 DigRF v4的测试原理 | 第25-39页 |
2.1 DigRFv4的电路原理 | 第25-34页 |
2.1.1 接口连接 | 第25-26页 |
2.1.2 频率及操作模式 | 第26-27页 |
2.1.3 M-PHY定义 | 第27-33页 |
2.1.4 信号传输特点 | 第33-34页 |
2.2 DigRFv4信号完整性 | 第34-38页 |
2.2.1 信号完整性分析 | 第34-36页 |
2.2.2 信号完整性测试方法 | 第36-38页 |
2.3 DigRF v4信号完整性方案设计思路 | 第38页 |
2.4 本章小结 | 第38-39页 |
第三章 DigRF v4的方案设计 | 第39-61页 |
3.1 DigRFv4测试模式建立 | 第39-42页 |
3.1.1 JTAG测试 | 第39-41页 |
3.1.2 Wishbone测试 | 第41-42页 |
3.1.3 DigRF v4测试模式建立流程 | 第42页 |
3.2 时钟模块测试方案设计 | 第42-46页 |
3.2.1 工作原理 | 第42-43页 |
3.2.2 测试方法 | 第43-45页 |
3.2.3 方案设计 | 第45-46页 |
3.3 功能测试方案设计 | 第46-54页 |
3.3.1 电路结构 | 第46-47页 |
3.3.2 PRBS Analog Loopback | 第47-49页 |
3.3.3 Frame Analog Loopback | 第49-50页 |
3.3.4 Line Loopback | 第50-54页 |
3.4 参数测试方案设计 | 第54-58页 |
3.4.1 DIGRFv4_电阻测试 | 第55-57页 |
3.4.2 DIGRFv4_直流参数测试 | 第57-58页 |
3.5 整体测试流程设计 | 第58-59页 |
3.6 本章小结 | 第59-61页 |
第四章 基于ATE的DigRF量产测试方案实现 | 第61-83页 |
4.1 ATE测试平台简介 | 第61-62页 |
4.2 DigRF测试接口板原理图设计 | 第62-65页 |
4.2.1 DigRF接口板的设计 | 第62-64页 |
4.2.2 多条Lane串扰问题的解决方案 | 第64-65页 |
4.3 测试平台上测试程序的配置 | 第65-69页 |
4.3.1 配置相关寄存器以及向量文件 | 第65-67页 |
4.3.2 建立测试数据 | 第67-69页 |
4.3.3 设置Shmoo工具 | 第69页 |
4.4 建立测试流程 | 第69-71页 |
4.5 编写相关测试程序 | 第71-77页 |
4.5.1 DIGRFv4_电阻测试 | 第71-76页 |
4.5.2 DIGRFv4_直流参数测试Txa | 第76-77页 |
4.6 测试时间的优化 | 第77-81页 |
4.7 本章小结 | 第81-83页 |
第五章 测试结果分析 | 第83-93页 |
5.1 测试结果分析 | 第83-89页 |
5.1.1 时钟模块结果分析 | 第83页 |
5.1.2 功能测试结果分析 | 第83-86页 |
5.1.3 参数测试结果分析 | 第86-89页 |
5.2 测试中出现的问题和解决方法 | 第89-91页 |
5.2.1 BERT解决方案 | 第89页 |
5.2.2 Line Loopback解决方案 | 第89-91页 |
5.3 测试时间优化结果 | 第91-92页 |
5.4 本章小结 | 第92-93页 |
第六章 总结与展望 | 第93-95页 |
6.1 研究总结 | 第93页 |
6.2 研究展望 | 第93-95页 |
参考文献 | 第95-98页 |
致谢 | 第98-100页 |
作者简介 | 第100-101页 |