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SOC DigRF接口量产测试方案的实现与优化

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第12-13页
缩略语对照表第13-17页
第一章 绪论第17-25页
    1.1 选题意义及应用背景第17-18页
    1.2 研究现状第18-20页
        1.2.1 DigRF发展现状第18-19页
        1.2.2 DigRFv4与DigRFv3.09比较第19-20页
    1.3 集成电路量产测试简介第20-23页
        1.3.1 量产测试必要性与经济性第20页
        1.3.2 量产测试分类第20-21页
        1.3.3 试验用到的测试工具介绍第21-23页
    1.4 论文内容安排第23-25页
第二章 DigRF v4的测试原理第25-39页
    2.1 DigRFv4的电路原理第25-34页
        2.1.1 接口连接第25-26页
        2.1.2 频率及操作模式第26-27页
        2.1.3 M-PHY定义第27-33页
        2.1.4 信号传输特点第33-34页
    2.2 DigRFv4信号完整性第34-38页
        2.2.1 信号完整性分析第34-36页
        2.2.2 信号完整性测试方法第36-38页
    2.3 DigRF v4信号完整性方案设计思路第38页
    2.4 本章小结第38-39页
第三章 DigRF v4的方案设计第39-61页
    3.1 DigRFv4测试模式建立第39-42页
        3.1.1 JTAG测试第39-41页
        3.1.2 Wishbone测试第41-42页
        3.1.3 DigRF v4测试模式建立流程第42页
    3.2 时钟模块测试方案设计第42-46页
        3.2.1 工作原理第42-43页
        3.2.2 测试方法第43-45页
        3.2.3 方案设计第45-46页
    3.3 功能测试方案设计第46-54页
        3.3.1 电路结构第46-47页
        3.3.2 PRBS Analog Loopback第47-49页
        3.3.3 Frame Analog Loopback第49-50页
        3.3.4 Line Loopback第50-54页
    3.4 参数测试方案设计第54-58页
        3.4.1 DIGRFv4_电阻测试第55-57页
        3.4.2 DIGRFv4_直流参数测试第57-58页
    3.5 整体测试流程设计第58-59页
    3.6 本章小结第59-61页
第四章 基于ATE的DigRF量产测试方案实现第61-83页
    4.1 ATE测试平台简介第61-62页
    4.2 DigRF测试接口板原理图设计第62-65页
        4.2.1 DigRF接口板的设计第62-64页
        4.2.2 多条Lane串扰问题的解决方案第64-65页
    4.3 测试平台上测试程序的配置第65-69页
        4.3.1 配置相关寄存器以及向量文件第65-67页
        4.3.2 建立测试数据第67-69页
        4.3.3 设置Shmoo工具第69页
    4.4 建立测试流程第69-71页
    4.5 编写相关测试程序第71-77页
        4.5.1 DIGRFv4_电阻测试第71-76页
        4.5.2 DIGRFv4_直流参数测试Txa第76-77页
    4.6 测试时间的优化第77-81页
    4.7 本章小结第81-83页
第五章 测试结果分析第83-93页
    5.1 测试结果分析第83-89页
        5.1.1 时钟模块结果分析第83页
        5.1.2 功能测试结果分析第83-86页
        5.1.3 参数测试结果分析第86-89页
    5.2 测试中出现的问题和解决方法第89-91页
        5.2.1 BERT解决方案第89页
        5.2.2 Line Loopback解决方案第89-91页
    5.3 测试时间优化结果第91-92页
    5.4 本章小结第92-93页
第六章 总结与展望第93-95页
    6.1 研究总结第93页
    6.2 研究展望第93-95页
参考文献第95-98页
致谢第98-100页
作者简介第100-101页

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