| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-19页 |
| 1.1 同步辐射装置简介 | 第14-16页 |
| 1.2 研究背景 | 第16-17页 |
| 1.3 论文结构安排 | 第17-19页 |
| 第二章 气体探测器及其读出方式 | 第19-27页 |
| 2.1 Micromegas气体探测器 | 第19-20页 |
| 2.2 GEM以及THGEM气体探测器 | 第20-21页 |
| 2.3 Micromegas、GEM和THGEM探测器读出方式 | 第21-26页 |
| 2.3.1 电极条(Strip)或电极盘(Pad)阵列读出 | 第21-23页 |
| 2.3.2 电容开关阵列读出 | 第23-24页 |
| 2.3.3 CMOS读出方式 | 第24-25页 |
| 2.3.4 CCD读出 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 系统硬件选择及设计 | 第27-41页 |
| 3.1 系统硬件的框架 | 第27页 |
| 3.2 系统硬件电路选择 | 第27-37页 |
| 3.2.1 前端数据处理板 | 第27-34页 |
| 3.2.2 数据集中处理板 | 第34-36页 |
| 3.2.3 PCIE数据采集板 | 第36-37页 |
| 3.3 GEM400芯片 | 第37-38页 |
| 3.4 GEM400芯片测试板设计 | 第38-39页 |
| 3.5 感应板设计 | 第39-40页 |
| 3.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 读出电子学系统固件设计 | 第41-61页 |
| 4.1 400通道电子学读出系统设计 | 第41-57页 |
| 4.1.1 前端数据处理板FPGA固件设计 | 第41-47页 |
| 4.1.1.1 GEM400芯片控制信号输出 | 第42页 |
| 4.1.1.2 ADC解串模块 | 第42-45页 |
| 4.1.1.3 数据处理 | 第45-46页 |
| 4.1.1.4 前端数据处理板与数据集中处理板的通信 | 第46-47页 |
| 4.1.2 数据集中处理板上固件设计 | 第47-51页 |
| 4.1.3 PCIE数据采集板固件设计以及上位机设计 | 第51-57页 |
| 4.1.4 上电复位与上位机复位 | 第57页 |
| 4.2 6400通道电子学读出系统 | 第57-60页 |
| 4.2.1 前端数据处理板固件设计 | 第57-59页 |
| 4.2.2 前端数据处理板与数据集中处理板的通信 | 第59-60页 |
| 4.3 本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 系统以及芯片测试 | 第61-76页 |
| 5.1 400通道系统测试 | 第61-68页 |
| 5.1.1 前端数据处理板ADC台基与有效位测试 | 第62-64页 |
| 5.1.2 前端数据处理板功能验证 | 第64-65页 |
| 5.1.3 系统数据传输验证 | 第65-67页 |
| 5.1.4 光纤传输误码率测试 | 第67-68页 |
| 5.2 GEM400芯片测试 | 第68-74页 |
| 5.3 6400通道读出电子学系统测试 | 第74-75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-76页 |
| 结论及展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 附录A GEM400芯片测试板实物图 | 第83-84页 |
| 附录B 感应板实物图 | 第84-86页 |
| 附录C 前端数据处理板实物图 | 第86-87页 |
| 附录D 数据集中处理板实物图 | 第87-88页 |
| 附录E PCIE数据采集板实物图 | 第88页 |
