致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7页 |
1 绪论 | 第10-16页 |
1.1 引言 | 第10页 |
1.2 研究背景和意义 | 第10-11页 |
1.3 研究现状和不足 | 第11-14页 |
1.4 课题的提出 | 第14页 |
1.5 论文的研究内容和结构 | 第14-16页 |
2 基于GO-FLOW的装配过程关键工序选取 | 第16-32页 |
2.1 引言 | 第16页 |
2.2 GO-FLOW法的基本原理 | 第16-17页 |
2.3 GO-FLOW法在装配过程中的应用研究 | 第17-23页 |
2.3.1 信号 | 第17-18页 |
2.3.2 时间点 | 第18页 |
2.3.3 操作符 | 第18-23页 |
2.4 装配过程建立GO-FLOW模型的规则 | 第23-24页 |
2.4.1 装配过程的GO-FLOW模型的数学描述 | 第23-24页 |
2.4.2 装配过程的GO-FLOW模型建立规则和应用步骤 | 第24页 |
2.5 实例分析和验证 | 第24-31页 |
2.5.1 离合器装配过程分析 | 第25-28页 |
2.5.2 基于GO-FLOW法的离合器装配过程关键工序选取 | 第28-31页 |
2.6 本章小结 | 第31-32页 |
3 基于SPC的装配过程质量监控研究 | 第32-60页 |
3.1 引言 | 第32页 |
3.2 基于SPC的装配过程质量监控的总体思路 | 第32-33页 |
3.3 基于FA的质量指标降维方法研究 | 第33-40页 |
3.3.1 FA的基本原理及实施步骤 | 第34-35页 |
3.3.2 应用实例分析 | 第35-40页 |
3.4 装配过程质量控制图研究 | 第40-51页 |
3.4.1 SPC基本原理 | 第41页 |
3.4.2 一元控制图与多元控制图应用研究 | 第41-43页 |
3.4.3 X-R与MEWMA控制图在装配过程质量控制中的联合应用 | 第43-44页 |
3.4.4 基于FA的多元单值X-R控制图 | 第44-45页 |
3.4.5 基于FA的多元单值EWMA控制图 | 第45-47页 |
3.4.6 实例分析验证 | 第47-51页 |
3.5 基于MC_(PK)的过程能力分析 | 第51-56页 |
3.5.1 过程能力指数概述 | 第51-54页 |
3.5.2 基于MC_(PK)的过程能力分析 | 第54-56页 |
3.6 A-CHARTS与C-CHARTS的联合应用机制 | 第56-58页 |
3.7 本章小结 | 第58-60页 |
4 基于SPC的装配过程质量监控系统开发 | 第60-72页 |
4.1 引言 | 第60页 |
4.2 需求分析 | 第60-61页 |
4.3 系统开发 | 第61-64页 |
4.3.1 系统功能设计 | 第61-63页 |
4.3.2 数据库设计 | 第63-64页 |
4.4 系统实现与应用 | 第64-71页 |
4.5 本章小结 | 第71-72页 |
5 结论与展望 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-78页 |
附录A | 第78-80页 |
附录B | 第80-82页 |
作者简历及攻读硕士/博士学位期间取得的研究成果 | 第82-86页 |
学位论文数据集 | 第86页 |