白光LED驱动芯片的版图设计及电路验证
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·集成电路设计的发展 | 第10-11页 |
| ·集成电路设计方法 | 第11-13页 |
| ·课题工作内容、意义和论文结构 | 第13-15页 |
| ·课题意义 | 第13页 |
| ·课题工作内容 | 第13-14页 |
| ·论文结构 | 第14-15页 |
| 第二章 CMOS 工艺版图设计 | 第15-44页 |
| ·CMOS 集成电路版图设计 | 第15-37页 |
| ·版图设计的概念 | 第15-16页 |
| ·版图设计的方法 | 第16-18页 |
| ·CMOS 工艺中的器件 | 第18-37页 |
| ·电阻 | 第18-23页 |
| ·电容 | 第23-25页 |
| ·二极管 | 第25-26页 |
| ·三极管 | 第26-27页 |
| ·MOS 管 | 第27-37页 |
| ·版图防护设计 | 第37-44页 |
| ·LATCH-UP 设计 | 第37-41页 |
| ·ESD 设计 | 第41-44页 |
| 第三章 Calibre 软件环境中的版图验证 | 第44-67页 |
| ·版图验证规则文件 | 第44-57页 |
| ·版图区域选择指令行 | 第44-53页 |
| ·边界选择指令行 | 第53-55页 |
| ·距离规则检查指令行 | 第55-57页 |
| ·DRC 版图验证 | 第57-62页 |
| ·DRC 检查规则 | 第58-60页 |
| ·DRC 检查流程 | 第60-62页 |
| ·LVS 版图验证 | 第62-67页 |
| 第四章 寄生参数提取及后仿真 | 第67-89页 |
| ·验证环境介绍及芯片结构介绍 | 第67-71页 |
| ·电路仿真验证流程 | 第67-69页 |
| ·芯片结构及功能 | 第69-71页 |
| ·VREF 模块 | 第71-75页 |
| ·OSC 模块 | 第75-78页 |
| ·DIM 模块 | 第78-82页 |
| ·芯片测试结果 | 第82-89页 |
| 第五章 结论与展望 | 第89-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-94页 |
