W波段准光腔法复介电常数测试系统的研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 电介质复介电常数测试方法简介 | 第11-12页 |
| 1.2.1 网络参数法 | 第11页 |
| 1.2.2 谐振腔法 | 第11-12页 |
| 1.3 准光腔法研究现状与发展 | 第12-14页 |
| 1.4 本文的主要工作内容 | 第14-15页 |
| 第二章 准光学谐振腔的理论基础 | 第15-32页 |
| 2.1 准光学谐振腔的基本参量 | 第16-19页 |
| 2.1.1 曲率因子 | 第16页 |
| 2.1.2 菲涅尔数 | 第16-17页 |
| 2.1.3 束腰半径 | 第17-18页 |
| 2.1.4 谐振频率 | 第18-19页 |
| 2.1.5 品质因数 | 第19页 |
| 2.2 高斯波束理论 | 第19-31页 |
| 2.2.1 高斯波束 | 第20-23页 |
| 2.2.2 高斯波束的傍轴特性 | 第23-24页 |
| 2.2.3 高斯波束的等相位面 | 第24-25页 |
| 2.2.4 高斯波束的场分布 | 第25-29页 |
| 2.2.5 高斯波束的能量密度 | 第29-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 准光学谐振腔的设计与加工 | 第32-50页 |
| 3.1 平凹腔尺寸的设计 | 第32-39页 |
| 3.1.1 球面镜反射面的曲率半径 | 第33页 |
| 3.1.2 球面镜与平面镜的口径 | 第33-35页 |
| 3.1.3 腔长 | 第35-38页 |
| 3.1.4 耦合孔 | 第38-39页 |
| 3.2 电磁仿真分析 | 第39-47页 |
| 3.2.1 基模仿真分析 | 第39-46页 |
| 3.2.2 微扰仿真分析 | 第46-47页 |
| 3.3 平凹腔的加工 | 第47-49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 外部结构的设计 | 第50-58页 |
| 4.1 机械结构的设计 | 第50-53页 |
| 4.1.1 承托镜面部分的设计 | 第50-52页 |
| 4.1.2 置中装置的设计 | 第52页 |
| 4.1.3 底座的设计 | 第52-53页 |
| 4.2 微扰装置的设计 | 第53-57页 |
| 4.2.1 微扰电路的设计 | 第54-55页 |
| 4.2.2 单片机软件的设计 | 第55-57页 |
| 4.3 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 测试系统的搭建 | 第58-78页 |
| 5.1 测试系统框图 | 第58-59页 |
| 5.2 复介电常数的测量原理 | 第59-66页 |
| 5.2.1 相对介电常数ε的计算公式 | 第61页 |
| 5.2.2 损耗角正切tanδ的计算公式 | 第61-63页 |
| 5.2.3 固有品质因数的测量 | 第63-66页 |
| 5.3 自动测量过程的实现 | 第66-73页 |
| 5.3.1 测量部分软件设计 | 第66-70页 |
| 5.3.2 微扰部分软件设计 | 第70-71页 |
| 5.3.3 空腔测试 | 第71-72页 |
| 5.3.4 样品测试 | 第72-73页 |
| 5.4 测试结果与分析 | 第73-76页 |
| 5.5 本章小结 | 第76-78页 |
| 第六章 结论与展望 | 第78-79页 |
| 6.1 工作总结 | 第78页 |
| 6.2 工作展望 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 附录：部分程序源代码 | 第84-90页 |
