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40nm低功耗标准单元设计

中文摘要第4-5页
abstract第5-6页
第一章 绪论第9-15页
    1.1 选题的背景第9-11页
    1.2 标准单元库设计研究现状第11-13页
        1.2.1 标准单元库应用现状第11-12页
        1.2.2 低功耗标准单元库研究现状第12-13页
    1.3 本文研究的意义及主要内容第13-15页
        1.3.1 本文研究的意义第13页
        1.3.2 本文的主要内容第13-15页
第二章 低功耗标准单元库技术概述第15-26页
    2.1 CMOS电路的功耗组成第15-18页
        2.1.1 CMOS电路的动态功耗第15-16页
        2.1.2 CMOS电路的静态功耗第16-18页
    2.2 低功耗技术第18-21页
        2.2.1 多电压技术第18-19页
        2.2.2 Power Switch技术第19页
        2.2.3 多阈值技术第19-20页
        2.2.4 时钟门控技术第20-21页
    2.3 标准单元库技术第21-25页
        2.3.1 标准单元库中包含的单元第21-22页
        2.3.2 标准单元库中的工艺文件第22-25页
    2.4 本章小结第25-26页
第三章 低功耗辅助标准单元设计第26-37页
    3.1 时钟门控单元第26-31页
    3.2 电平转换单元第31-34页
    3.3 隔离单元第34-36页
    3.4 本章小结第36-37页
第四章 低功耗触发器单元设计第37-52页
    4.1 主从触发器简介第37-39页
    4.2 条件控制技术第39-41页
    4.3 基于时钟门控的主从触发器单元第41-42页
    4.4 前仿结果分析及比较第42-45页
        4.4.1 传输门主从触发器第43-44页
        4.4.2 反相器结构主从触发器单元第44页
        4.4.3 门控触发器单元第44-45页
    4.5 低功耗版图绘制第45-47页
    4.6 后仿结果分析及功耗分析第47-48页
    4.7 稳定性分析第48-51页
        4.7.1 不同PVT下的稳定性分析第48-49页
        4.7.2 基于蒙特卡罗方法的稳定性分析第49-51页
    4.8 本章小结第51-52页
第五章 低功耗标准单元库验证第52-61页
    5.1 静态随机存储器简介第52-53页
    5.2 存储器内自建测试电路简介第53-55页
        5.2.1 激励产生器第53-54页
        5.2.2 控制器第54页
        5.2.3 响应分析器第54-55页
    5.3 MBIST的低功耗设计第55-59页
        5.3.1 低功耗LFSR设计第55-57页
        5.3.2 门控MBIST设计第57-58页
        5.3.3 低电压MBIST设计第58-59页
    5.4 版图绘制及后仿分析第59-60页
    5.5 本章小结第60-61页
第六章 总结与展望第61-63页
    6.1 总结第61-62页
    6.2 展望第62-63页
参考文献第63-68页
攻读硕士期间发表论文第68-69页
致谢第69-70页

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