半导体测试生产线产能规划应用研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| ·课题的研究背景与问题的提出 | 第9-11页 |
| ·问题研究的目的及意义 | 第11-12页 |
| ·国内外相关研究概述 | 第12-14页 |
| ·论文的研究内容 | 第14-16页 |
| ·论文架构 | 第16-18页 |
| 第二章 存储器测试生产状况综述 | 第18-27页 |
| ·DRAM 半导体生产流程概述 | 第18-22页 |
| ·DRAM 简述 | 第18页 |
| ·DRAM 生产流程 | 第18-22页 |
| ·DRAM 封装测试生产流程 | 第22-25页 |
| ·老化预测试(TDBI) | 第24页 |
| ·功能测试与速度测试 | 第24页 |
| ·电性抽测(QPE)： | 第24-25页 |
| ·后段测试流程-M.V.P | 第25页 |
| ·半导体测试生产线生产特性 | 第25-27页 |
| 第三章 产能规划相关技术研究综述 | 第27-38页 |
| ·半导体产能规划研究现况 | 第27-31页 |
| ·优化计划模型概述 | 第28-29页 |
| ·典型优化计划模型方法 | 第29-31页 |
| ·半导体产能规划与调度问题研究方法比较 | 第31-38页 |
| 第四章 测试生产线产能规划的数学建模 | 第38-45页 |
| ·问题描述与定义 | 第38页 |
| ·生产系统假设 | 第38-39页 |
| ·测试产能规划模型 | 第39-45页 |
| ·参数与变量 | 第40-44页 |
| ·线性整数规划模型说明 | 第44-45页 |
| 第五章 模型的实际应用 | 第45-58页 |
| ·HT 公司生产环境 | 第45页 |
| ·产能规划模型应用 | 第45-53页 |
| ·产品及设备信息 | 第45-47页 |
| ·生产计划信息 | 第47-48页 |
| ·测试价格与测试成本 | 第48-51页 |
| ·生产配件约束 | 第51-52页 |
| ·其他产能因素说明 | 第52-53页 |
| ·产能规划模型应用分析 | 第53-55页 |
| ·产能规划模型应用求解 | 第53页 |
| ·产能规划模型结果分析 | 第53-55页 |
| ·产能规划模型与现况作法比较 | 第55-56页 |
| ·产能规划模型小结 | 第56-58页 |
| 第六章 结论与展望 | 第58-60页 |
| ·结论 | 第58页 |
| ·展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 附录 | 第62-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 攻读硕士期间发表的学术论文 | 第75-78页 |
| 附件 | 第78页 |
