交替互补的自恢复控制器研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| ·概述 | 第12-14页 |
| ·控制器容错技术的研究背景 | 第12页 |
| ·容错技术的相关定义 | 第12-13页 |
| ·课题研究现状 | 第13-14页 |
| ·本文的研究内容及创新之处 | 第14-15页 |
| ·本文的研究内容 | 第14-15页 |
| ·本文的创新之处 | 第15页 |
| ·本文的组织结构 | 第15-17页 |
| 第二章 软错误防护技术概述 | 第17-32页 |
| ·软错误相关概念 | 第17-18页 |
| ·容软错误电路加固技术 | 第18-25页 |
| ·软错误加固技术防护的对象 | 第18-19页 |
| ·软错误防护的级别 | 第19-20页 |
| ·几种经典的单元加固方案 | 第20-25页 |
| ·软错误防护技术的发展趋势 | 第25页 |
| ·有限状态机 | 第25-27页 |
| ·有限状态机的基本概念 | 第25-26页 |
| ·有限状态机的综合 | 第26页 |
| ·状态机拆分的概念 | 第26-27页 |
| ·电路综合简介 | 第27-31页 |
| ·综合与综合器 | 第27-28页 |
| ·综合的层次 | 第28页 |
| ·综合的步骤 | 第28-29页 |
| ·综合工具SIS | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 基于DMR 的自恢复方案 | 第32-39页 |
| ·三模冗余及双模冗余容错结构 | 第32-33页 |
| ·基于双模冗余的交替互补自恢复方案SDMR | 第33-38页 |
| ·通用的双模冗余结构 | 第33-34页 |
| ·C 单元 | 第34-35页 |
| ·SDMR 自恢复方案 | 第35-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 基于状态机拆分的自恢复结构 | 第39-49页 |
| ·extension 电路自恢复结构 | 第39-40页 |
| ·基于状态机拆分的电路自恢复方案FD_SER | 第40-48页 |
| ·FD_SER 的拆分思想 | 第40-41页 |
| ·FD_SER 方案的状态机拆分算法及举例 | 第41-43页 |
| ·交替互补的双状态机自恢复结构 | 第43-44页 |
| ·状态编码 | 第44-45页 |
| ·综合过程 | 第45页 |
| ·实验结果 | 第45-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 总结与展望 | 第49-51页 |
| ·课题总结 | 第49-50页 |
| ·对未来工作的展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-56页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第56-57页 |
