基于状态相关和幂次数划分的SoC测试数据压缩方法研究

摘要	第1-6页
Abstract	第6-7页
致谢	第7-11页
第一章 绪论	第11-16页
·研究背景	第11-12页
·研究意义	第12页
·国内外研究现状	第12-14页
·本文创新点和结构安排	第14-16页
第二章 SoC 测试技术及测试数据压缩方法	第16-30页
·SoC 测试技术	第16-20页
·SoC 测试结构	第16-17页
·SoC 测试方法	第17-18页
·SoC 测试过程	第18-20页
·SoC 测试数据压缩方法	第20-29页
·测试集紧缩技术	第20-21页
·内建自测试	第21-25页
·外建自测试	第25-29页
·本章小结	第29-30页
第三章 基于LFSR 状态相关的测试数据压缩方法	第30-41页
·基于LFSR 的重新播种方法	第30-34页
·LFSR 结构及原理	第30-31页
·LFSR 重新播种方法及其改进方法	第31-34页
·基于LFSR 状态相关的测试数据压缩方法	第34-40页
·基本思想	第34-35页
·选择排序策略	第35-37页
·带多输入端口的LFSR	第37页
·解压电路	第37-39页
·综合过程	第39页
·实验结果	第39-40页
·本章小结	第40-41页
第四章 基于幂次数划分的测试数据压缩方法	第41-52页
·基于游程的编码压缩方案	第41-42页
·基于幂次数划分的测试数据压缩方法	第42-51页
·基本思想	第42-45页
·测试数据分析	第45-46页
·解压电路	第46-50页
·实验结果	第50-51页
·本章小结	第51-52页
第五章 总结与展望	第52-54页
·全文总结	第52页
·未来工作展望	第52-54页
参考文献	第54-59页
附录	第59-60页