薄膜单波长激光损伤阈值测试控制系统的研制
| 摘要 | 第2-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第8页 |
| 1.1.1 课题背景 | 第8页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第8页 |
| 1.2 激光损伤阈值测试控制系统研究现状 | 第8-9页 |
| 1.2.1 基于PCI总线的控制方式 | 第8-9页 |
| 1.2.2 基于嵌入式的控制方式 | 第9页 |
| 1.3 激光损伤阈值测试研究现状 | 第9-10页 |
| 1.4 本文主要内容 | 第10-12页 |
| 2 薄膜损伤阈值测试控制系统总体技术方案 | 第12-16页 |
| 2.1 系统测试原理 | 第12-14页 |
| 2.2 薄膜损伤阈值测试系统方案 | 第14-15页 |
| 2.3 本章小结 | 第15-16页 |
| 3 薄膜损伤阈值测试控制系统硬件设计 | 第16-37页 |
| 3.1 控制系统硬件选型 | 第16-26页 |
| 3.1.1 ARM微控制器 | 第16页 |
| 3.1.2 网口芯片 | 第16-17页 |
| 3.1.3 样品台控制系统 | 第17-19页 |
| 3.1.4 程控衰减器系统 | 第19-23页 |
| 3.1.5 激光器控制系统 | 第23-25页 |
| 3.1.6 损伤判别系统 | 第25页 |
| 3.1.7 分束计、能量计 | 第25-26页 |
| 3.2 控制系统硬件电路设计 | 第26-31页 |
| 3.2.1 主处理器电路设计 | 第26-31页 |
| 3.2.2 SD卡接口电路 | 第31页 |
| 3.3 通讯模块电路设计 | 第31-33页 |
| 3.3.1 串口电路设计 | 第31-32页 |
| 3.3.2 以太网电路设计 | 第32-33页 |
| 3.4 控制系统电路板PCB设计 | 第33-35页 |
| 3.5 薄膜损伤阈值测试控制系统硬件调试 | 第35-36页 |
| 3.6 本章小结 | 第36-37页 |
| 4 薄膜损伤阈值测试控制系统软件设计 | 第37-57页 |
| 4.1 软件设计总体方案 | 第37-38页 |
| 4.2 控制系统嵌入式软件设计 | 第38-44页 |
| 4.2.1 程控衰减器模块软件设计 | 第38-40页 |
| 4.2.2 霍尔数据采集模块软件设计 | 第40-41页 |
| 4.2.3 样品控制台模块软件设计 | 第41-44页 |
| 4.3 控制系统通讯模块软件设计 | 第44-47页 |
| 4.4 薄膜损伤阈值测试控制系统控制板的调试 | 第47-49页 |
| 4.5 控制系统上位机软件设计 | 第49-56页 |
| 4.5.1 测试界面设计 | 第49-54页 |
| 4.5.2 激光器的控制 | 第54-55页 |
| 4.5.3 衰减器的控制 | 第55页 |
| 4.5.4 二维样品台的控制 | 第55-56页 |
| 4.5.5 工作时序 | 第56页 |
| 4.6 本章总结 | 第56-57页 |
| 5 系统实验及验证 | 第57-60页 |
| 5.1 衰减系统 | 第57-58页 |
| 5.2 程控位移台 | 第58-59页 |
| 5.3 本章小结 | 第59-60页 |
| 6 结论与展望 | 第60-62页 |
| 6.1 结论 | 第60页 |
| 6.2 展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
