| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第10-23页 |
| 1.1 选题背景及研究意义 | 第10-13页 |
| 1.2 EDXRF检测装置的研究现状 | 第13-20页 |
| 1.2.1 仪器设备的研究概况 | 第13-17页 |
| 1.2.2 数据处理与解析技术的发展概况 | 第17-20页 |
| 1.3 大米中重金属元素X荧光分析光谱仪的技术要求 | 第20页 |
| 1.4 课题来源、研究内容及创新点 | 第20-23页 |
| 1.4.1 课题来源 | 第20页 |
| 1.4.2 研究内容 | 第20-22页 |
| 1.4.3 创新点 | 第22-23页 |
| 第2章 基本原理与关键性技术 | 第23-37页 |
| 2.1 基本原理 | 第23-24页 |
| 2.2 EDXRF的数据处理技术 | 第24-28页 |
| 2.2.1 定性分析方法 | 第24-27页 |
| 2.2.2 定量计算方法 | 第27-28页 |
| 2.3 关键性技术的研究方案 | 第28-37页 |
| 2.3.1 大米中重金属X荧光分析的难点及关键性技术 | 第28-29页 |
| 2.3.2 关键性器部件的设计与选择 | 第29-37页 |
| 第3章 XRF低背景高灵敏度探测装置的研究 | 第37-57页 |
| 3.1 探测装置的最优化设计 | 第37-43页 |
| 3.1.1“源-样-探”几何结构 | 第37-40页 |
| 3.1.2 样品最佳几何形状 | 第40-43页 |
| 3.2 X射线管的最佳工作条件 | 第43-48页 |
| 3.2.1 X射线管阳极靶材的选择及厚度确定 | 第43-46页 |
| 3.2.2 管压管流的确定 | 第46-47页 |
| 3.2.3 最佳测量时间的确定 | 第47-48页 |
| 3.3 滤光片的选择 | 第48-54页 |
| 3.3.1 初级滤光片 | 第48-49页 |
| 3.3.2 次级滤光片 | 第49-51页 |
| 3.3.3 滤光片厚度 | 第51-54页 |
| 3.4 转换靶装置设计 | 第54-57页 |
| 3.4.1 转换靶靶材选择 | 第54-55页 |
| 3.4.2 转换靶几何布置 | 第55-57页 |
| 第4章 探测装置几何布置的MC模拟 | 第57-82页 |
| 4.1 蒙特卡罗方法原理 | 第57-58页 |
| 4.1.1 蒙特卡罗方法的基本原理 | 第57页 |
| 4.1.2 蒙特卡罗程序简介 | 第57-58页 |
| 4.2 楔形样品何结构模拟 | 第58-75页 |
| 4.2.1 源-探垂直布置模拟 | 第58-65页 |
| 4.2.2 源-探贴边布置模拟 | 第65-70页 |
| 4.2.3 源-探等高布置模拟 | 第70-75页 |
| 4.3 球形样品的模拟结果 | 第75-78页 |
| 4.4 圆柱形样品的模拟结果 | 第78-80页 |
| 4.5 三种形状样品的模拟结果对比分析 | 第80页 |
| 4.6 本章小结 | 第80-82页 |
| 第5章 测量条件的MC模拟 | 第82-99页 |
| 5.1 X射线管的工作参数模拟 | 第82-84页 |
| 5.1.1 管压的模拟 | 第82-83页 |
| 5.1.2 抽样次数的模拟 | 第83-84页 |
| 5.2 滤光片模拟 | 第84-94页 |
| 5.2.1 初级滤光片的模拟 | 第84-92页 |
| 5.2.2 次级滤光片的模拟 | 第92-94页 |
| 5.3 转换靶模拟 | 第94-97页 |
| 5.3.1 反射靶激发 | 第95-96页 |
| 5.3.2 透射靶激发 | 第96-97页 |
| 5.4 本章小结 | 第97-99页 |
| 第6章 实验与分析 | 第99-107页 |
| 6.1 实验方案 | 第99-101页 |
| 6.2 实验结果及分析 | 第101-106页 |
| 6.2.1 校正曲线的建立 | 第101-103页 |
| 6.2.2 有关计算公式 | 第103-104页 |
| 6.2.3 实验结果对比 | 第104-106页 |
| 6.3 本章小结 | 第106-107页 |
| 结论 | 第107-108页 |
| 致谢 | 第108-109页 |
| 参考文献 | 第109-116页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第116页 |