首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--设计论文

SoC功能验证自动化系统的设计与实现

第一章 绪论第1-24页
   ·集成电路的发展第14页
   ·IC设计技术与验证技术发展第14-18页
     ·手工设计阶段第15页
     ·计算机辅助设计阶段(CAD)第15-16页
     ·计算机辅助工程阶段(CAE)第16页
     ·电子系统设计自动化(ESDA)第16-18页
   ·SoC和功能验证的挑战第18-21页
   ·基于事务的验证重用方法学第21-23页
   ·论文的主要研究内容及章节安排第23-24页
第二章 SoC功能验证方法学第24-38页
   ·典型的SoC系统第24-25页
   ·SoC功能验证方法第25-27页
   ·可重用功能验证平台体系结构第27-32页
     ·基于事务验证模型的验证平台体系结构第28-30页
     ·软件驱动的功能验证第30-31页
     ·硬件仿真平台第31-32页
   ·验证平台的重用第32-33页
   ·验证语言(Verification Languages)和验证解决方案第33-38页
     ·Synopsys的Vera第34-35页
     ·Verisity的Specman第35-36页
     ·Avery的TestWizard第36-37页
     ·三种验证解决方案的分析第37-38页
第三章 SoC功能验证系统第38-73页
   ·引言第38页
   ·VAS系统的顶层设计第38-44页
     ·VAS系统的总体考虑第38-41页
     ·验证系统的层次划分第41-42页
     ·验证系统的可重用性考虑第42-44页
   ·描述层的设计第44-60页
     ·功能验证计划第44页
     ·描述层的体系结构第44-45页
     ·总线事务命令第45-54页
       ·总线事务概念第45-47页
       ·总线事务命令的设计原则第47-48页
       ·总线事务命令的定义第48-52页
       ·利用总线事务命令编写事务级激励第52-54页
     ·系统描述符第54-59页
       ·系统描述符和系统配置文件的概念第54页
       ·系统描述符的设计原则第54-55页
       ·系统描述符的定义第55-58页
       ·系统配置文件第58-59页
     ·回归测试控制第59页
     ·描述层设计的总结第59-60页
   ·逻辑层的设计第60-64页
     ·回归测试管理程序第60-61页
     ·测试编译程序第61-62页
     ·分析程序和生成程序第62-63页
     ·仿真控制程序第63页
     ·检查程序第63页
     ·逻辑层设计的总结第63-64页
   ·接口层的定义第64-72页
     ·数据接口的概念第64页
     ·功能验证运行环境的分析第64-66页
     ·数据接口的设计第66-70页
     ·测试平台接口第70-71页
     ·工具接口定义第71-72页
   ·物理层第72页
   ·本章小结第72-73页
第四章 验证系统的实现第73-97页
   ·物理层的实现第73-84页
     ·总线功能模型设计的研究第74-80页
       ·基于任务的BFM设计第74-76页
       ·基于状态机的BFM设计第76-78页
       ·实验及性能分析第78-79页
       ·总线功能模型的实现第79-80页
     ·总线监视器的设计第80-84页
       ·Monitor采样模块的设计第81-82页
       ·信号转换模块的设计第82-84页
       ·Monitor的可重用性设计规则第84页
   ·接口层的实现第84-88页
     ·实现的基础第85页
     ·测试平台模板的设计第85-88页
   ·逻辑层的实现第88-90页
     ·生成程序的设计第88-89页
     ·工具接口的生成第89-90页
   ·系统的组织结构第90-91页
   ·功能验证实验第91-96页
     ·编写事务级测试向量第92-93页
     ·编写系统配置文件第93页
     ·运行测试向量第93-94页
     ·运行结果的分析第94-96页
   ·本章小结第96-97页
第五章 结论与展望第97-99页
   ·工作总结第97-98页
   ·进一步的工作第98-99页
参考文献第99-101页

论文共101页,点击 下载论文
上一篇:高二数学优秀生与学困生的解题策略比较研究
下一篇:新型多面体空间刚架结构分析研究