摘要 | 第1-8页 |
ABSTRACT | 第8-10页 |
第一章 绪论 | 第10-23页 |
§1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
§1.2 文献综述 | 第11-20页 |
§1.3 论文的研究内容和组织结构 | 第20-23页 |
第二章 BIT系统传感层虚警产生的原因和机理分析 | 第23-39页 |
§2.1 基于BIT信息处理流程的虚警分析 | 第23-32页 |
§2.2 传感层数据偏差或异常影响虚警的机理分析 | 第32-38页 |
§2.3 本章小结 | 第38-39页 |
第三章 BIT系统传感层数据质量的影响因素分析和不确定性计算 | 第39-64页 |
§3.1 BIT系统传感层的数据质量 | 第39-40页 |
§3.2 BIT系统传感层数据质量的影响因素分析 | 第40-47页 |
§3.3 传感器不确定性分析 | 第47-59页 |
§3.4 实例应用 | 第59-62页 |
§3.5 本章小结 | 第62-64页 |
第四章 BIT系统虚警率及其传感层影响参数的数学模型研究 | 第64-80页 |
§4.1 BIT系统虚警率的数学建模与分析 | 第64-71页 |
§4.2 传感层反馈型BIT模型效能分析 | 第71-76页 |
§4.3 基于传感层反馈型BIT模型的降虚警技术对策 | 第76-79页 |
§4.4 本章小结 | 第79-80页 |
第五章 基于传感层硬件优化设计降低BIT虚警的研究 | 第80-103页 |
§5.1 系统的测试信息分析 | 第80-82页 |
§5.2 基于系统测试信息的传感器优选 | 第82-85页 |
§5.3 机电设备BIT系统的传感器布局优化 | 第85-98页 |
§5.4 案例应用 | 第98-101页 |
§5.5 本章小结 | 第101-103页 |
第六章 基于传感器证实技术降低BIT虚警的研究 | 第103-121页 |
§6.1 传感器证实技术研究现状及其基本原理 | 第103-108页 |
§6.2 基于因果网络模型的传感器证实算法研究 | 第108-117页 |
§6.3 案例应用 | 第117-119页 |
§6.4 本章小结 | 第119-121页 |
第七章 BIT系统传感层降虚警技术的应用研究 | 第121-134页 |
§7.1 某机电跟踪与稳定伺服平台系统分析 | 第121-127页 |
§7.2 某机电跟踪与稳定伺服BIT系统中传感层的优化设计 | 第127-130页 |
§7.3 基于传感器证实的降虚警技术应用 | 第130-133页 |
§7.4 本章小结 | 第133-134页 |
第八章 结论和展望 | 第134-136页 |
§8.1 全文总结 | 第134-135页 |
§8.2 研究展望 | 第135-136页 |
致谢 | 第136-138页 |
主要参考文献 | 第138-152页 |
附录:攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第152-153页 |