| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-14页 |
| 插图目次 | 第14-18页 |
| 表格目次 | 第18-19页 |
| 第1章 绪论 | 第19-33页 |
| ·引言 | 第19-20页 |
| ·芯片电源完整性主要研究对象及挑战 | 第20-22页 |
| ·芯片电源完整性分析在后端设计中的应用 | 第22-24页 |
| ·芯片电源完整性的研究现状 | 第24-31页 |
| ·芯片电源网格等效电路模型 | 第24-26页 |
| ·芯片电源网格分析算法 | 第26-29页 |
| ·电源网格优化算法 | 第29页 |
| ·芯片电源完整性分析的其它议题 | 第29-30页 |
| ·芯片电源完整性EDA软件现状 | 第30-31页 |
| ·论文的组织结构 | 第31-33页 |
| 第2章 用于电源网格分析的随机行走算法 | 第33-43页 |
| ·芯片上电源网格模型MNA方程的建立 | 第33-35页 |
| ·芯片上电源网格模型的直流分析 | 第33-34页 |
| ·芯片上电源网格模型的瞬态分析 | 第34-35页 |
| ·随机行走算法在电源网格分析中的应用 | 第35-41页 |
| ·随机行走算法简介 | 第35-37页 |
| ·随机行走算法的误差与效率分析 | 第37-38页 |
| ·随机行走算法在瞬态分析中的应用 | 第38-40页 |
| ·改进的随机行走算法 | 第40页 |
| ·随机行走算法优缺点总结 | 第40-41页 |
| ·随机行走算法在电源完整性分析中的应用 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第3章 芯片上电源网格等效模型研究 | 第43-73页 |
| ·芯片电源网格模型分析 | 第43-49页 |
| ·电源网格的寄生电感效应分析 | 第44-47页 |
| ·电源网格的寄生电容效应分析 | 第47-49页 |
| ·器件模型与电源网格噪声的关系 | 第49-58页 |
| ·简化的电源网格模型噪声解析解 | 第49-52页 |
| ·影响电源网格噪声的要素及不同电源网格模型仿真效率 | 第52-57页 |
| ·不同电源网格模型的仿真效率 | 第57-58页 |
| ·基于表格查找和有限回路的芯片局部有效电感提取算法 | 第58-72页 |
| ·局部有效电感定义 | 第59-61页 |
| ·基于表格查找和有限回路的局部有效电感提取算法流程 | 第61-67页 |
| ·基于局部有效电感的电源网格RLC模型仿真结果 | 第67-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第4章 改进的随机行走算法 | 第73-85页 |
| ·随机行走算法概述 | 第73-74页 |
| ·随机行走游戏与电源网格的等价 | 第73-74页 |
| ·随机行走法求解电源网格的优缺点 | 第74页 |
| ·改进的随机行走算法 | 第74-76页 |
| ·算法改进原理 | 第74-76页 |
| ·算法的时间复杂度和误差分析 | 第76页 |
| ·基于改进随机行走算法预优的高斯-赛德尔迭代法 | 第76-78页 |
| ·iRW-GS算法描述 | 第77页 |
| ·并行运算在iRW-GS算法中的应用 | 第77-78页 |
| ·仿真结果及分析 | 第78-84页 |
| ·改进的随机行走算法 | 第78-81页 |
| ·iRW-GS算法仿真结果分析 | 第81-84页 |
| ·本章小结 | 第84-85页 |
| 第5章 基于随机行走的电源Pad分配算法 | 第85-95页 |
| ·电源pad s优化问题描述 | 第85-86页 |
| ·电源pads优化模型 | 第85-86页 |
| ·电源pads优化问题描述 | 第86页 |
| ·基于随机行走的电源pad分配算法 | 第86-91页 |
| ·随机行走法概述 | 第86-87页 |
| ·基于随机行走法的电源需求程度评价函数 | 第87-89页 |
| ·基于层次化随机行走的SPA算法 | 第89-91页 |
| ·完整的电源pad分配算法 | 第91页 |
| ·仿真结果及分析 | 第91-93页 |
| ·基于随机行走的电源pad分配算法精度 | 第92-93页 |
| ·基于随机行走的电源pad分配算法效率 | 第93页 |
| ·本章小结 | 第93-95页 |
| 第6章 芯片电源网格简化模型 | 第95-122页 |
| ·芯片电源网格模型简化算法概述 | 第95-99页 |
| ·模型简介 | 第95-97页 |
| ·芯片电源网格模型简化算法概述 | 第97-99页 |
| ·芯片电源网格模型简化算法 | 第99-107页 |
| ·模型预处理 | 第100页 |
| ·无源网络模型简化 | 第100-106页 |
| ·端口诺顿等效电流源模型提取 | 第106-107页 |
| ·算法的实验结果 | 第107-118页 |
| ·算法精度分析 | 第107-116页 |
| ·算法效率分析 | 第116-118页 |
| ·芯片电源网格简化模型的应用 | 第118-121页 |
| ·本章小结 | 第121-122页 |
| 第7章 考虑芯片-封装谐振效应的去耦电容优化算法 | 第122-142页 |
| ·基于时域的芯片上去耦电容优化分析 | 第122-128页 |
| ·基于时域的芯片去耦电容优化问题描述 | 第123-124页 |
| ·芯片器件电流源激励对电源网格噪声的影响 | 第124-127页 |
| ·封装模型对芯片电源网格噪声的影响 | 第127-128页 |
| ·芯片最坏噪声切换模式提取 | 第128-131页 |
| ·芯片-封装谐振频率计算 | 第128-129页 |
| ·粗化的芯片电源网格RLC模型提取 | 第129-130页 |
| ·提取最坏噪声切换模式 | 第130-131页 |
| ·基于随机行走的去耦电容优化算法 | 第131-138页 |
| ·去耦电容作用原理及电容量选择 | 第132-134页 |
| ·基于随机行走算法的去耦电容预优化 | 第134-136页 |
| ·基于随机行走算法分块的去耦电容优化 | 第136-138页 |
| ·仿真结果与分析 | 第138-141页 |
| ·最坏噪声切换模式选择结果 | 第138-139页 |
| ·基于随机行走法的去耦电容优化结果 | 第139-140页 |
| ·算法的整体效率与精度验证 | 第140-141页 |
| ·本章小结 | 第141-142页 |
| 第8章 基于GUI的芯片电源完整性应用软件设计 | 第142-153页 |
| ·芯片电源完整性软件功能设计 | 第142-147页 |
| ·基本功能框架 | 第142-144页 |
| ·IC P/G Network Simulator仿真软件各功能模块介绍 | 第144-147页 |
| ·软件可操作性设计 | 第147-151页 |
| ·软件整体界面 | 第147页 |
| ·软件部分界面介绍 | 第147-151页 |
| ·软件的不足及改进 | 第151-152页 |
| ·本章小结 | 第152-153页 |
| 第9章 总结与展望 | 第153-155页 |
| ·本文总结 | 第153-154页 |
| ·本文研究的未来展望 | 第154-155页 |
| 参考文献 | 第155-162页 |
| 作者简历 | 第162页 |
