摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 引言 | 第10-16页 |
1.1 选题依据及研究意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
1.2.1 EDXRF分析技术的发展历程 | 第11页 |
1.2.2 EDXRF分析在生物样品分析中的研究现状 | 第11-13页 |
1.2.3 EDXRF探测装置的研究现状 | 第13-14页 |
1.3 课题来源和研究内容 | 第14-15页 |
1.3.1 课题来源 | 第14-15页 |
1.3.2 研究内容 | 第15页 |
本章小结 | 第15-16页 |
第2章 基本原理 | 第16-27页 |
2.1 EDXRF分析的基本原理 | 第16-22页 |
2.1.1 X射线与物质相互作用 | 第16-17页 |
2.1.2 EDXRF定性分析的理论基础 | 第17-20页 |
2.1.3 EDXRF定量分析的理论公式 | 第20-22页 |
2.2 蒙特卡罗方法及其在XRF中的应用 | 第22-26页 |
2.2.1 蒙特卡罗方法简介 | 第22页 |
2.2.2 蒙特卡罗方法应用程序简介 | 第22-24页 |
2.2.3 X荧光分析的MC模拟原理 | 第24-26页 |
本章小结 | 第26-27页 |
第3章 EDXRF最佳测量条件的研究 | 第27-45页 |
3.1 探测装置的几何结构研究 | 第27-31页 |
3.1.1“源-样-探”角度分析 | 第27-29页 |
3.1.2“源-样-探”距离分析 | 第29-31页 |
3.2 样品形状研究 | 第31-32页 |
3.3 X光管阳极靶材的选择及厚度确定 | 第32-36页 |
3.3.1 阳极靶材的选择 | 第33-34页 |
3.3.2 阳极靶厚度的确定 | 第34-36页 |
3.4 滤光片的选择 | 第36-41页 |
3.4.1 滤光片分类 | 第36-37页 |
3.4.2 初级滤光片 | 第37-38页 |
3.4.3 次级滤光片 | 第38-41页 |
3.5 二次靶装置设计 | 第41-44页 |
3.5.1 装置几何结构 | 第41-43页 |
3.5.2 二次靶材选择 | 第43-44页 |
本章小结 | 第44-45页 |
第4章 探测装置的蒙特卡罗模拟模型 | 第45-53页 |
4.1“源-样-探”几何角度模拟 | 第45-47页 |
4.2“源-样-探”几何距离模拟 | 第47-48页 |
4.3 样品形状模拟 | 第48-49页 |
4.4 滤光片的模拟实验 | 第49-51页 |
4.4.1 初级滤光片 | 第49-50页 |
4.4.2 次级滤光片 | 第50-51页 |
4.5 二次靶装置模拟 | 第51-52页 |
本章小结 | 第52-53页 |
第5章 模拟结果与分析 | 第53-75页 |
5.1“源-样-探”几何角度模拟结果与分析 | 第53-54页 |
5.2“源-样-探”几何距离模拟结果与分析 | 第54-57页 |
5.3 样品形状模拟结果与分析 | 第57-58页 |
5.4 滤光片模拟结果与分析 | 第58-65页 |
5.4.1 初级滤光片 | 第58-63页 |
5.4.2 次级滤光片 | 第63-65页 |
5.5 待测样品外形的对比分析 | 第65-67页 |
5.6 激发电压实验结果与分析 | 第67-68页 |
5.7 二次靶装置模拟结果与分析 | 第68-73页 |
本章小结 | 第73-75页 |
结论 | 第75-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-81页 |
攻读学位期间取得学术成果 | 第81页 |