摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 绪论 | 第8-17页 |
1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第8-9页 |
1.2 辐射环境 | 第9-14页 |
1.2.1 空间辐射环境 | 第9-12页 |
1.2.2 大气辐射环境 | 第12-13页 |
1.2.3 核爆辐射环境 | 第13页 |
1.2.4 其他辐射环境 | 第13-14页 |
1.3 国内外研究现状 | 第14-15页 |
1.3.1 国外研究现状 | 第14-15页 |
1.3.2 国内研究现状 | 第15页 |
1.4 本文的主要研究内容 | 第15-17页 |
第2章 单粒子辐射效应的基本理论 | 第17-25页 |
2.1 引言 | 第17页 |
2.2 位移损伤 | 第17-18页 |
2.3 瞬态剂量率效应 | 第18页 |
2.4 总剂量效应 | 第18-19页 |
2.5 单粒子效应 | 第19-22页 |
2.5.1 电荷产生 | 第20-21页 |
2.5.2 电荷收集 | 第21页 |
2.5.3 电路响应 | 第21-22页 |
2.6 单粒子效应的量化表述 | 第22-23页 |
2.7 单粒子效应对模拟电路的影响 | 第23-24页 |
2.8 本章小结 | 第24-25页 |
第3章 放大器的 SET 效应研究 | 第25-39页 |
3.1 引言 | 第25页 |
3.2 采用电阻做负载的共源放大器 | 第25-38页 |
3.2.1 器件级的建模 | 第25-26页 |
3.2.2 电路级模拟 | 第26页 |
3.2.3 工艺器件拟合 | 第26-29页 |
3.2.4 电阻做负载的共源级放大器 | 第29-34页 |
3.2.5 电阻做负载的差分放大器 | 第34-38页 |
3.3 本章小结 | 第38-39页 |
第4章 比较器的 SET 敏感性分析 | 第39-53页 |
4.1 引言 | 第39页 |
4.2 比较器结构 | 第39-40页 |
4.3 比较器的 SET 敏感性分析 | 第40-52页 |
4.3.1 比较器第一级电路的 SET 敏感性分析 | 第41-43页 |
4.3.2 比较器第三级电路的 SET 敏感性分析 | 第43-47页 |
4.3.3 比较器整体电路的 SET 敏感性分析 | 第47-52页 |
4.4 本章小结 | 第52-53页 |
结论 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-58页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第58-60页 |
致谢 | 第60页 |