首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--半导体集成电路(固体电路)论文--场效应型论文

CMOS模拟集成电路中放大器和比较器的SET分析

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-17页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第8-9页
    1.2 辐射环境第9-14页
        1.2.1 空间辐射环境第9-12页
        1.2.2 大气辐射环境第12-13页
        1.2.3 核爆辐射环境第13页
        1.2.4 其他辐射环境第13-14页
    1.3 国内外研究现状第14-15页
        1.3.1 国外研究现状第14-15页
        1.3.2 国内研究现状第15页
    1.4 本文的主要研究内容第15-17页
第2章 单粒子辐射效应的基本理论第17-25页
    2.1 引言第17页
    2.2 位移损伤第17-18页
    2.3 瞬态剂量率效应第18页
    2.4 总剂量效应第18-19页
    2.5 单粒子效应第19-22页
        2.5.1 电荷产生第20-21页
        2.5.2 电荷收集第21页
        2.5.3 电路响应第21-22页
    2.6 单粒子效应的量化表述第22-23页
    2.7 单粒子效应对模拟电路的影响第23-24页
    2.8 本章小结第24-25页
第3章 放大器的 SET 效应研究第25-39页
    3.1 引言第25页
    3.2 采用电阻做负载的共源放大器第25-38页
        3.2.1 器件级的建模第25-26页
        3.2.2 电路级模拟第26页
        3.2.3 工艺器件拟合第26-29页
        3.2.4 电阻做负载的共源级放大器第29-34页
        3.2.5 电阻做负载的差分放大器第34-38页
    3.3 本章小结第38-39页
第4章 比较器的 SET 敏感性分析第39-53页
    4.1 引言第39页
    4.2 比较器结构第39-40页
    4.3 比较器的 SET 敏感性分析第40-52页
        4.3.1 比较器第一级电路的 SET 敏感性分析第41-43页
        4.3.2 比较器第三级电路的 SET 敏感性分析第43-47页
        4.3.3 比较器整体电路的 SET 敏感性分析第47-52页
    4.4 本章小结第52-53页
结论第53-54页
参考文献第54-58页
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果第58-60页
致谢第60页

论文共60页,点击 下载论文
上一篇:18位精度音频Sigma-Delta ADC设计
下一篇:基于AODV的无线网状网协议的设计与仿真