| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 致谢 | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| 1.1 片上系统 SoC 的发展 | 第13-14页 |
| 1.2 NoC 的基本知识 | 第14-16页 |
| 1.2.1 NoC 基本概念 | 第14页 |
| 1.2.2 NoC 的研究内容 | 第14-16页 |
| 1.3 课题研究的目的和意义 | 第16-17页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第17-18页 |
| 1.5 本文结构安排 | 第18-19页 |
| 第二章 NoC 测试相关知识简介 | 第19-31页 |
| 2.1 集成电路测试的重要性 | 第19-20页 |
| 2.2 可测试性设计 | 第20-21页 |
| 2.2.1 扫描设计 | 第20页 |
| 2.2.2 BIST | 第20-21页 |
| 2.3 NoC 通讯架构的测试 | 第21-25页 |
| 2.3.1 路由器的测试 | 第21-23页 |
| 2.3.2 通道链路的测试 | 第23-24页 |
| 2.3.3 分布式在线通讯架构测试 | 第24-25页 |
| 2.4 IP 核的测试 | 第25-30页 |
| 2.4.1 基于重用的并行测试方法 | 第25-27页 |
| 2.4.2 提高带宽利用率的测试方法 | 第27-28页 |
| 2.4.3 低功耗 IP 核测试调度算法 | 第28-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 NoC 通讯架构的 BIST 测试方法 | 第31-43页 |
| 3.1 路由器功能故障模型 | 第31-33页 |
| 3.2 BIST 测试方法 | 第33-36页 |
| 3.2.1 测试数据包的格式 | 第33-34页 |
| 3.2.2 BIST 测试过程 | 第34-36页 |
| 3.2.3 测试时间分析 | 第36页 |
| 3.3 诊断方法 | 第36-41页 |
| 3.3.1 诊断过程 | 第36-40页 |
| 3.3.2 诊断时间分析 | 第40-41页 |
| 3.4 实验结果 | 第41-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 功耗限制下时钟频率最优化的 NoC 测试调度算法 | 第43-51页 |
| 4.1 IP 核测试调度问题 | 第43-45页 |
| 4.1.1 IP 核测试调度 | 第43-44页 |
| 4.1.2 功耗限制下的测试调度问题 | 第44-45页 |
| 4.2 时钟频率最优化算法 | 第45-48页 |
| 4.2.1 算法描述 | 第45-47页 |
| 4.2.2 最优化时钟频率调整方法 | 第47-48页 |
| 4.3 功耗限制下的测试调度算法 | 第48-49页 |
| 4.4 实验结果 | 第49-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 总结与展望 | 第51-53页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第51-52页 |
| 5.2 工作展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 附录 | 第57-58页 |