印制电路板化镍沉金浸润不良和化镍化钯沉金键合不良的失效分析
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第7-22页 |
1.1 电子信息产业的基础-PCB | 第7-10页 |
1.2 PCB的历史 | 第10-11页 |
1.3 世界PCB产业格局 | 第11-19页 |
1.4 PCB的主要制备流程 | 第19-22页 |
第二章 PCB表面处理研究进展 | 第22-29页 |
2.1 PCB表面处理综述 | 第22-27页 |
2.2 课题的研究方法 | 第27-29页 |
第三章 化镍沉金表面浸润性不良的失效分析 | 第29-42页 |
3.1 概述 | 第29-31页 |
3.2 样品和实验 | 第31-32页 |
3.3 结果和讨论 | 第32-40页 |
3.4 结论 | 第40-41页 |
3.5 建议 | 第41-42页 |
第四章 化镍化钯沉金表面键合不良的失效分析 | 第42-57页 |
4.1 概述 | 第42-44页 |
4.2 实验和样品 | 第44-46页 |
4.3 结果和讨论 | 第46-56页 |
4.4 结论 | 第56页 |
4.5 建议 | 第56-57页 |
第五章 全文总结 | 第57-59页 |
5.1 化镍沉金表面浸润性不良的失效分析 | 第57页 |
5.2 化镍化钯沉金表面键合不良的失效分析 | 第57-59页 |
参考文献 | 第59-66页 |
作者在硕士研究生期间发表的论文和工作 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-68页 |