| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第12-20页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第12-14页 |
| 1.2 工业过程非线性检测研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 论文研究内容和框架 | 第16-20页 |
| 2 工业控制回路非线性检测与诊断 | 第20-34页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 工业控制回路非线性检测与诊断框架 | 第20-23页 |
| 2.3 控制回路非线性检测方法 | 第23-28页 |
| 2.3.1 基于双相干谱的Choudhury检测方法 | 第24-26页 |
| 2.3.2 替代数据法 | 第26-28页 |
| 2.4 非线性振荡源定位方法 | 第28-30页 |
| 2.4.1 非线性特征排序定位法 | 第28-29页 |
| 2.4.2 基于转移熵的定位法 | 第29-30页 |
| 2.5 粘滞检测方法 | 第30-33页 |
| 2.5.1 相关检测法 | 第31页 |
| 2.5.2 微分检测法 | 第31-32页 |
| 2.5.3 面积比较检测法 | 第32页 |
| 2.5.4 曲线拟合检测法 | 第32-33页 |
| 2.6 本章小结 | 第33-34页 |
| 3 基于改进倒双谱的控制回路非线性检测方法 | 第34-54页 |
| 3.1 引言 | 第34-36页 |
| 3.2 高阶统计量简介 | 第36-39页 |
| 3.2.1 双谱(Bispectrum) | 第36页 |
| 3.2.2 双相干谱(Bicoherence) | 第36-37页 |
| 3.2.3 倒双谱(Bicepstrum)和改进倒双谱(Modified bicepstrum) | 第37-39页 |
| 3.3 基于改进倒双谱的控制回路非线性检测方法 | 第39-42页 |
| 3.3.1 参考输入信号 | 第39页 |
| 3.3.2 非线性检测指标和监控线 | 第39-40页 |
| 3.3.3 非线性检测的步骤 | 第40-41页 |
| 3.3.4 基于Modified bcp方法的振荡诊断 | 第41页 |
| 3.3.5 基于Modified bcp方法的多回路非线性振荡源定位 | 第41-42页 |
| 3.4 仿真实验与讨论 | 第42-52页 |
| 3.4.1 单个控制回路的非线性检测 | 第43-48页 |
| 3.4.2 Modified bcp方法与Choudhury方法的比较 | 第48-51页 |
| 3.4.3 检测指标与非线性程度的相关关系 | 第51-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 4 基于PSI的非线性振荡源定位方法 | 第54-74页 |
| 4.1 引言 | 第54页 |
| 4.2 PSI因果分析方法 | 第54-58页 |
| 4.2.1 交叉谱(Cross spectrum) | 第54-55页 |
| 4.2.2 PSI(Phase slope index)与标准PSI | 第55-57页 |
| 4.2.3 利用PSI定位非线性振荡源的步骤 | 第57-58页 |
| 4.3 TE过程仿真 | 第58-72页 |
| 4.3.1 TE过程 | 第58-60页 |
| 4.3.2 单非线性振荡源定位 | 第60-66页 |
| 4.3.3 多非线性振荡源定位 | 第66-72页 |
| 4.4 本章小结 | 第72-74页 |
| 5 总结与展望 | 第74-78页 |
| 5.1 工作总结 | 第74-76页 |
| 5.2 研究展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-83页 |
