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一种应用于TDC的低抖动多相高频时钟产生电路设计

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-15页
    1.1 研究背景与意义第9-11页
    1.2 国内外研究现状与发展趋势第11-13页
    1.3 研究内容与设计指标第13-14页
        1.3.1 研究内容第13页
        1.3.2 设计指标第13-14页
    1.4 论文组织结构第14-15页
第二章 环形振荡器理论基础第15-29页
    2.1 环形振荡器基本原理第15-18页
        2.1.1 反馈控制理论第15-16页
        2.1.2 压控环振模型第16-17页
        2.1.3 器件噪声特性第17-18页
    2.2 延迟单元时间模型第18-22页
        2.2.1 单端延迟单元第18-20页
        2.2.2 差分延迟单元第20-22页
    2.3 相位噪声线性模型第22-25页
        2.3.1 线性时变模型第22-24页
        2.3.2 相位噪声优化第24-25页
    2.4 开环抖动累积效应第25-27页
    2.5 本章小结第27-29页
第三章 低抖动多相高频时钟产生电路设计第29-55页
    3.1 TDC需求分析第29-30页
    3.2 闭环锁频环系统架构第30-35页
        3.2.1 环路稳定特性第31-33页
        3.2.2 噪声传输特性第33-35页
    3.3 闭环锁相环系统架构第35-39页
        3.3.1 环路稳定特性第35-37页
        3.3.2 相位噪声优化第37-39页
    3.4 关键模块电路设计与前仿真验证第39-53页
        3.4.1 压控振荡器设计第39-41页
        3.4.2 频率电压转换电路设计第41-45页
        3.4.3 误差放大器第45-47页
        3.4.4 鉴频鉴相器第47-49页
        3.4.5 电荷泵电路第49-52页
        3.4.6 分频器电路第52-53页
    3.5 本章小结第53-55页
第四章 系统前后仿真验证与版图设计第55-65页
    4.1 系统前仿真验证第55-57页
    4.2 关键模块版图设计第57-64页
        4.2.1 布图规划第57页
        4.2.2 关键模块版图设计第57-64页
    4.3 系统后仿真验证第64页
    4.4 本章小结第64-65页
第五章 芯片测试与结果分析第65-79页
    5.1 测试平台第65-67页
        5.1.1 芯片封装第65页
        5.1.2 板级设计第65-66页
        5.1.3 测试方案第66-67页
    5.2 关键模块测试第67-69页
    5.3 系统芯片测试第69-75页
    5.4 结果分析与改进意见第75-78页
    5.5 本章小结第78-79页
第六章 总结与展望第79-81页
    6.1 总结第79页
    6.2 展望第79-81页
参考文献第81-85页
致谢第85-87页
攻读硕士学位期间发表的论文第87页

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