摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-13页 |
第1章 绪论 | 第13-19页 |
·课题背景 | 第13页 |
·国内外相关研究综述 | 第13-15页 |
·研究内容 | 第15-17页 |
·研究方法 | 第17-19页 |
第2章 相关理论基础 | 第19-35页 |
·六西格玛概述 | 第19-21页 |
·六西格玛的定义 | 第19页 |
·六西格玛的统计含义 | 第19-21页 |
·六西格玛的管理含义 | 第21页 |
·六西格玛改进流程(DMAIC) | 第21-23页 |
·测量系统分析(MSA) | 第23-25页 |
·分辨力和稳定性 | 第23-24页 |
·偏倚和线性 | 第24页 |
·重复性和再现性 | 第24-25页 |
·试验设计(DOE) | 第25-31页 |
·试验设计原则 | 第27页 |
·试验设计的类型 | 第27-30页 |
·试验设计优化分析的流程 | 第30-31页 |
·统计过程控制(SPC) | 第31-34页 |
·SPC概念及特点 | 第31页 |
·控制图的基本原理 | 第31-32页 |
·SPC控制图的实施流程 | 第32-34页 |
·小结 | 第34-35页 |
第3章 六西格玛在电子装配型企业应用中存在的主要问题 | 第35-41页 |
·电子装配型企业的总体流程 | 第35-36页 |
·电子装配的两个主要装配工艺 | 第36-38页 |
·通孔组装工艺 | 第36-37页 |
·表面贴装工艺 | 第37-38页 |
·本文涉及的改进和控制环节 | 第38页 |
·六西格玛的质量工具在运用中遇到的问题 | 第38-39页 |
·MSA中样本不一致问题 | 第38页 |
·DOE在波峰焊参数优化设计中的因子不显著问题 | 第38页 |
·SPC样本子组大小不等和点出界异常的问题 | 第38-39页 |
·小结 | 第39-41页 |
第4章 样本不一致下MSA中的重复性和再现性研究 | 第41-47页 |
·典型测量系统分析重复性和再现性分析方法的不足 | 第41页 |
·样本不一致测量过程的测量系统模型 | 第41-43页 |
·各方差估计值的计算 | 第43-44页 |
·波峰焊温度测试仪的测量系统分析实例 | 第44-46页 |
·数据采集 | 第44页 |
·各因子间关系分析 | 第44页 |
·重复性和再现性分析结果 | 第44-46页 |
·小结 | 第46-47页 |
第5章 DOE在波峰焊参数优化设计中的应用 | 第47-61页 |
·峰焊参数优化的试验设计流程 | 第47-48页 |
·波峰焊影响因子的分析 | 第48-50页 |
·可精确控制因子 | 第48-49页 |
·可控但不能精确控制因子 | 第49页 |
·不可控因子 | 第49-50页 |
·试验前重要参数设置及验证 | 第50-51页 |
·波峰1吃锡厚度设置及验证 | 第50-51页 |
·轨道倾角设置 | 第51页 |
·只采用可精确控制因子的多因子试验 | 第51-54页 |
·选取试验因子 | 第51页 |
·DOE试验顺序的确定 | 第51-52页 |
·拟合选定模型分析因子显著性 | 第52-53页 |
·多因子试验中因子不显著问题客观原因分析 | 第53-54页 |
·加入可控但不能精确控制因子的多因子试验 | 第54-58页 |
·试验因子选定 | 第54页 |
·DOE试验顺序及结果记录 | 第54-55页 |
·多元线性回归筛选因子 | 第55-56页 |
·拟合线性模型 | 第56-58页 |
·针对显著因子的单因子试验 | 第58-59页 |
·因子不显著问题的主观原因分析 | 第59页 |
·小结 | 第59-61页 |
第6章 样本子组大小不等和点出界异常下 SPC的应用 | 第61-69页 |
·典型SPC控制应用实例 | 第61-63页 |
·SPC控制样本子组大小不等问题的分析及解决 | 第63-65页 |
·样本子组大小不等问题描述 | 第63页 |
·通用控制图解决子组大小不等问题 | 第63-64页 |
·计算控制限判断点是否异常解决子组大小不等问题 | 第64-65页 |
·造成SPC点出界异常的人为因素及分析 | 第65-67页 |
·设置控制限中存在的人为因素 | 第65-66页 |
·采集数据中存在的人为因素 | 第66-67页 |
·小结 | 第67-69页 |
第7章 总结与展望 | 第69-71页 |
·总结 | 第69页 |
·展望 | 第69-71页 |
参考文献 | 第71-75页 |
致谢 | 第75-77页 |
攻读硕士期间发表的论文、获奖情况及发明专利等项 | 第77-79页 |
作者从事科学研究和学习经历的简历 | 第79页 |