| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-17页 |
| ·课题的研究背景与意义 | 第13页 |
| ·国内外研究现状分析 | 第13-15页 |
| ·本文的主要研究工作 | 第15-16页 |
| ·本文的内容安排 | 第16-17页 |
| 第二章 可重构电路容错关键技术分析 | 第17-27页 |
| ·可重构电路故障模型 | 第17-18页 |
| ·故障测试技术 | 第18-21页 |
| ·冗余检测 | 第18-19页 |
| ·内建自测试 | 第19-20页 |
| ·基于配置数据回读的测试技术 | 第20页 |
| ·基于免疫机制的自测试技术 | 第20-21页 |
| ·故障修复技术 | 第21-26页 |
| ·基于备份冗余的修复技术 | 第21-22页 |
| ·基于配置数据重载的修复技术 | 第22页 |
| ·基于重布局布线的修复技术 | 第22-24页 |
| ·基于新型可重构阵列的修复技术 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 分层自主容错可重构阵列结构设计与容错方法研究 | 第27-62页 |
| ·引言 | 第27-28页 |
| ·分层容错阵列结构设计 | 第28-42页 |
| ·分层容错阵列整体结构 | 第28-29页 |
| ·阵列互连结构 | 第29-33页 |
| ·功能细胞结构 | 第33-38页 |
| ·管理细胞结构 | 第38-42页 |
| ·分层容错阵列的容错机制 | 第42-48页 |
| ·模块层容错 | 第42-46页 |
| ·细胞层容错 | 第46-47页 |
| ·组织层容错 | 第47-48页 |
| ·应用实例设计与实验分析 | 第48-61页 |
| ·应用实例设计 | 第48页 |
| ·仿真实验分析 | 第48-54页 |
| ·容错性能分析 | 第54-56页 |
| ·物理实验验证 | 第56-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第四章 可自主修复多位故障的细胞电路设计与容错方法研究 | 第62-77页 |
| ·引言 | 第62页 |
| ·细胞电路设计 | 第62-66页 |
| ·细胞整体设计 | 第62-63页 |
| ·自主容错的逻辑模块设计 | 第63-66页 |
| ·故障自测试与自修复方法 | 第66-70页 |
| ·故障自测试方法 | 第66-69页 |
| ·故障自修复方法 | 第69-70页 |
| ·应用实例设计与实验分析 | 第70-76页 |
| ·应用实例设计 | 第70页 |
| ·仿真实验验证 | 第70-74页 |
| ·容错性能分析 | 第74-75页 |
| ·物理实验验证 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 第五章 总结与展望 | 第77-79页 |
| ·研究工作总结 | 第77-78页 |
| ·后续研究展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第85页 |