量子电路综合与容错方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第13-15页 |
| ·课题的研究背景 | 第13-14页 |
| ·课题的研究意义 | 第14-15页 |
| ·量子电路研究现状及发展方向 | 第15-20页 |
| ·量子电路技术研究现状分析 | 第15-19页 |
| ·存在难题和发展方向 | 第19-20页 |
| ·本文的研究内容和论文结构 | 第20-21页 |
| 第二章 量子电路理论基础 | 第21-30页 |
| ·量子电路理论基础 | 第21-28页 |
| ·量子比特及量子逻辑门 | 第21-26页 |
| ·量子电路约束条件及性能指标 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 量子电路进化设计理论与算法研究 | 第30-58页 |
| ·引言 | 第30-31页 |
| ·量子电路的综合设计数学模型 | 第31-32页 |
| ·遗传进化算法理论简介 | 第32-33页 |
| ·基于二维变长染色体编码的量子电路综合设计方法 | 第33-41页 |
| ·编码方案 | 第33-35页 |
| ·遗传操作 | 第35-38页 |
| ·适应度函数构建 | 第38-41页 |
| ·综合设计算法 | 第41页 |
| ·量子可逆基准电路进化设计研究 | 第41-47页 |
| ·设计实例及结果分析 | 第41-47页 |
| ·量子可逆逻辑功能电路进化设计研究 | 第47-56页 |
| ·量子可逆逻辑功能电路分块设计方法 | 第47-48页 |
| ·设计结果及结果分析 | 第48-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第四章 量子电路容错设计方法研究 | 第58-81页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·基于单逻辑门的量子电路容错设计方法 | 第58-68页 |
| ·输入及输出信号检测门电路及故障检测门设计 | 第59-63页 |
| ·单奇偶保持门电路故障检测模块设计 | 第63-64页 |
| ·基于单逻辑门的量子电路故障检测方法 | 第64-66页 |
| ·基于单逻辑门的量子电路容错设计方法 | 第66-67页 |
| ·实验结果分析 | 第67-68页 |
| ·任意量子电路容错设计方法 | 第68-79页 |
| ·非奇偶保持门的二次封装设计方法 | 第68-70页 |
| ·基于模块化的量子电路容错设计方法 | 第70-78页 |
| ·实验结果分析 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-81页 |
| 第五章 总结与展望 | 第81-83页 |
| ·课题工作总结 | 第81-82页 |
| ·课题展望 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第88页 |
| 硕士期间发明专利申请情况 | 第88页 |
