高速通信系统中PCB板级电源分配系统对信号完整性影响的研究--电源完整性
| 论文摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-12页 |
| 第一章 引言 | 第12-16页 |
| ·信号完整性和电源完整性问题的应用背景 | 第12-13页 |
| ·信号完整性问题的产生原因 | 第13-14页 |
| ·高速系统的电源完整性 | 第14-15页 |
| ·本文的研究框架和主要内容 | 第15-16页 |
| 第二章 高速系统的电源完整性分析 | 第16-32页 |
| ·信号完整性和电源完整性 | 第16-19页 |
| ·电源完整性的影响因素 | 第19-24页 |
| ·同步切换和地弹 | 第19-20页 |
| ·非理想的电源分配系统阻抗 | 第20-21页 |
| ·旁路电容 | 第21-23页 |
| ·谐振与边缘效应 | 第23-24页 |
| ·高速CMOS电路的电源完整性分析 | 第24-27页 |
| ·同步切换噪声／地弹噪声电路分析 | 第27-30页 |
| ·On-chip切换噪声 | 第28-29页 |
| ·Off-chip切换噪声 | 第29-30页 |
| ·本章小节 | 第30-32页 |
| 第三章 电源完整性分析模型的建立 | 第32-48页 |
| ·电源分配系统建模基础 | 第32-33页 |
| ·开关电源模型 | 第33-39页 |
| ·电源地平面的模型 | 第39-42页 |
| ·电源地平面模型 | 第39-41页 |
| ·模型的拓扑结构 | 第41-42页 |
| ·电容模型 | 第42-47页 |
| ·电容模型分析 | 第42-44页 |
| ·电容的阻抗特性 | 第44-46页 |
| ·电容并联特性及反谐振 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 电源完整性仿真 | 第48-63页 |
| ·仿真环境 | 第48-51页 |
| ·高速PCB板仿真 | 第48-51页 |
| ·仿真工具 | 第51页 |
| ·SQ PI 仿真过程 | 第51-57页 |
| ·仿真结果分析 | 第57-63页 |
| 第五章 高速电子线路电源完整性测试 | 第63-75页 |
| ·电源完整性测试环境 | 第63-66页 |
| ·测试结果及分析 | 第66-75页 |
| ·四种测试情况及其试验结果 | 第67-74页 |
| ·测试结果分析 | 第74-75页 |
| 第六章 结论与和展望 | 第75-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第82页 |
