基于JTAG的芯片测试系统研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 课题研究意义 | 第17-18页 |
| 1.4 研究内容及安排 | 第18-21页 |
| 第二章 JTAG测试技术基础研究 | 第21-31页 |
| 2.1 边界扫描测试技术基本原理 | 第21页 |
| 2.2 测试接口和边界扫描结构 | 第21-28页 |
| 2.2.1 测试访问端口TAP | 第22-23页 |
| 2.2.2 TAP控制器 | 第23-25页 |
| 2.2.3 指令寄存器 | 第25-26页 |
| 2.2.4 数据寄存器 | 第26-28页 |
| 2.3 边界扫描描述语言 | 第28-30页 |
| 2.4 本章总结 | 第30-31页 |
| 第三章 边界扫描测试理论及算法研究 | 第31-43页 |
| 3.1 边界扫描测试理论及数学模型建立 | 第31-34页 |
| 3.1.1 测试理论基础 | 第31-33页 |
| 3.1.2 数学模型建立 | 第33-34页 |
| 3.2 测试向量的紧凑性与完备性 | 第34-35页 |
| 3.2.1 紧凑性指标 | 第34-35页 |
| 3.2.2 完备性指标 | 第35页 |
| 3.3 传统测试向量生成算法 | 第35-39页 |
| 3.3.1 二进制计数算法 | 第36-37页 |
| 3.3.2 改良计数序列算法 | 第37页 |
| 3.3.3 计数补偿算法 | 第37-38页 |
| 3.3.4 移位“0”和移位“1”算法 | 第38-39页 |
| 3.3.5 等权值抗误判算法 | 第39页 |
| 3.4 基于复杂网络的互连测试优化算法 | 第39-42页 |
| 3.4.1 算法思想及描述 | 第39-41页 |
| 3.4.2 算法性能分析 | 第41-42页 |
| 3.5 本章总结 | 第42-43页 |
| 第四章 边界扫描测试系统设计方案 | 第43-59页 |
| 4.1 总体方案设计 | 第43-44页 |
| 4.2 边界扫描测试方案各模块设计 | 第44-51页 |
| 4.2.1 BSDL文件解析 | 第44-46页 |
| 4.2.2 网表文件解析 | 第46-47页 |
| 4.2.3 完整性测试 | 第47-48页 |
| 4.2.4 互连测试 | 第48-49页 |
| 4.2.5 静态功能测试 | 第49-50页 |
| 4.2.6 故障诊断模块 | 第50-51页 |
| 4.3 结果分析 | 第51-54页 |
| 4.3.1 完整性测试结果分析 | 第51页 |
| 4.3.2 互连测试结果分析 | 第51-53页 |
| 4.3.3 静态功能测试结果分析 | 第53-54页 |
| 4.4 方案设计中遇到的问题及解决方案 | 第54-57页 |
| 4.5 本章总结 | 第57-59页 |
| 第五章 基于覆盖率的仿真验证方法 | 第59-71页 |
| 5.1 常见故障模型设计 | 第59-62页 |
| 5.1.1 固定逻辑故障模型 | 第59-61页 |
| 5.1.2 暂态故障模型 | 第61页 |
| 5.1.3 桥接故障模型 | 第61-62页 |
| 5.2 故障检测和模拟 | 第62-63页 |
| 5.3 基于线网数的故障覆盖率测试方案 | 第63-69页 |
| 5.3.1 故障模型建立 | 第63-65页 |
| 5.3.2 故障发生模拟 | 第65页 |
| 5.3.3 向量对比及结果显示 | 第65-66页 |
| 5.3.4 结果分析 | 第66-69页 |
| 5.4 本章总结 | 第69-71页 |
| 第六章 总结和展望 | 第71-73页 |
| 6.1 总结 | 第71页 |
| 6.2 展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 作者简介 | 第79-80页 |
