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基于CAN总线的SoC产品测试系统的设计

中文摘要第1-4页
Abstract第4-8页
第一章 绪论第8-14页
   ·课题背景及研究意义第8页
   ·SoC产品的测试方法第8-10页
   ·CAN总线的发展及前景第10-12页
     ·CAN总线的发展现状第11页
     ·CAN总线的发展前景第11-12页
     ·CAN总线在测试系统中的应用第12页
   ·课题主要研究内容及安排第12-14页
第二章 CAN总线技术规范简介第14-23页
   ·CAN总线的特点第14-15页
   ·CAN总线的分层结构第15-17页
   ·CAN总线的帧结构第17-21页
   ·CAN总线的仲裁技术第21页
   ·CAN错误检测及处理第21-22页
   ·本章小结第22-23页
第三章 测试系统总体设计第23-28页
   ·设计目标及设计流程第23-24页
   ·系统的总体设计方案第24-25页
   ·测试系统的工作阶段第25-26页
   ·测试系统的工作模式第26-27页
   ·本章小结第27-28页
第四章 测试系统硬件设计第28-40页
   ·系统硬件设计思路第28-30页
   ·STM32F103RD简介第30-31页
   ·系统硬件电路的设计第31-39页
     ·STM32F103RD及部分外围电路第31-34页
     ·CAN总线接口电路第34-36页
     ·测试接口电路第36-38页
     ·过流检测电路第38-39页
   ·本章小结第39-40页
第五章 测试系统软件设计第40-67页
   ·系统各模块软件设计第40-44页
     ·总控模块主函数设计第40-41页
     ·主测试模块主函数设计第41-43页
     ·从测试模块主函数设计第43-44页
   ·CAN网络通讯程序设计第44-50页
     ·CAN基本通信软件设计第44-48页
     ·CAN应用层协议设计第48-50页
   ·I~2C通讯程序设计第50-52页
     ·I~2C通信帧格式设计第50-51页
     ·I~2C中断程序设计第51-52页
     ·上位机程序设计第52-59页
     ·串口通信程序设计第53-55页
     ·上位机控制界面设计第55-59页
   ·SoC产品测试软件设计第59-66页
     ·SD卡底层驱动设计第59-62页
     ·SD卡模块测试第62-66页
   ·本章小结第66-67页
第六章 测试系统应用调试第67-78页
   ·通信单元电路调试第67-70页
     ·CAN通信电路调试第67-68页
     ·I~2C通信电路调试第68-69页
     ·串口通信调试第69-70页
   ·系统联调第70-73页
   ·测试系统应用效果第73-76页
   ·测试数据统计第76-77页
   ·本章小结第77-78页
结论第78-80页
参考文献第80-83页
致谢第83-84页
个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文第84页

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