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基于TDDB效应的PUF研究

摘要第5-6页
abstract第6页
第一章 绪论第9-22页
    1.1 选题背景与意义第9-10页
    1.2 国外研究现状第10-19页
        1.2.1 非电子PUF第11-12页
        1.2.2 模拟电路PUF第12-13页
        1.2.3 数字电路PUF第13-19页
        1.2.4 PUF发展趋势第19页
    1.3 国内研究现状第19-20页
    1.4 本论文的主要内容及结构安排第20-22页
第二章 PUF的相关概念综述第22-28页
    2.1 PUF简介第22-23页
    2.2 PUF特点第23页
    2.3 PUF应用及局限第23-27页
    2.4 本章小结第27-28页
第三章 MOS器件TDDB特性研究第28-39页
    3.1 TDDB效应介绍第28页
    3.2 超薄栅氧化层TDDB击穿机理第28-31页
    3.3 TDDB效应测试实验设计第31-37页
        3.3.1 测试方法介绍第31-32页
        3.3.2 测试流程介绍第32-35页
        3.3.3 测试结果特性第35-37页
    3.4 本章小结第37-39页
第四章 单片电荷敏感放大器第39-57页
    4.1 单片电荷敏感前置放大器概述第39-41页
    4.2 单片电荷敏感前置放大器概述第41-42页
    4.3 单片电荷敏感前置放大电路基本单元第42-49页
        4.3.1 有源电阻或负载第43-44页
        4.3.2 恒流源电路第44-45页
        4.3.3 CMOS偏置电路第45-46页
        4.3.4 共源共栅放大器第46-47页
        4.3.5 输出级第47-49页
    4.4 普通单片电荷敏感放大器电路分析第49-52页
        4.4.1 电路模拟第51-52页
    4.5 改进型电荷敏感前置放大电路分析第52-56页
        4.5.1 电路模拟第53-56页
    4.6 本章小节第56-57页
第五章 PUF电路整体介绍及内部构成第57-65页
    5.1 整体电路介绍第57-58页
    5.2 逻辑控制电路介绍第58-61页
        5.2.1 比较器第58-61页
        5.2.2 断电保护管第61页
    5.3 整体逻辑控制电路仿真第61-62页
    5.4 仲裁输出电路介绍第62-64页
        5.4.1 传统仲裁电路第62-63页
        5.4.2 改进的D触发器仲裁电路第63-64页
        5.4.3 仲裁电路仿真设计第64页
    5.5 本章小结第64-65页
第六章 总结与展望第65-67页
    6.1 本文工作总结第65页
    6.2 展望第65-67页
致谢第67-68页
参考文献第68-74页
攻读硕士学位期间取得的成果第74-75页

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