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用升华法在硅衬底上外延生长β碳化硅薄膜

1. 绪论第1-18页
 §1.1 引言第8-9页
 §1.2 SiC晶体生长技术简述第9-13页
  1.2.1 高温升华法第9-11页
  1.2.2 化学气相淀积法(CVD)第11-12页
  1.2.3 液相生长法第12-13页
 §1.3 研究背景第13-18页
  1.3.1 β-SiC及其生长方法概述第13-16页
  1.3.2 用高温升华法在Si衬底上生长β-SiC的可行性分析第16-17页
  1.3.3 本文主要内容第17-18页
2. 实验设备与样品制备工艺第18-27页
 §2.1 实验设备主要组成部分及功能第18-21页
 §2.2 坩埚组件的设计制作第21-23页
 §2.3 样品制备工艺第23-27页
  2.3.1 SiC粉和Si衬底的清洁处理第23-24页
  2.3.2 SiC粉的烧结处理第24-25页
  2.3.3 Si衬底的碳化第25-26页
  2.3.4 外延生长第26-27页
3. 实验样品分析第27-38页
 §3.1 XRD分析第27-31页
 §3.2 TEM分析第31-35页
 §3.3 Raman散射分析第35-38页
4. 生长源和关键实验条件第38-47页
 §4.1 SiC粉的选择第38-41页
 §4.2 衬底温度第41-44页
 §4.3 超饱和度和生长源温度第44-47页
5. 结论第47-49页
 §5.1 结论第47页
 §5.2 进一步的工作设想第47-49页
致谢第49-50页
参考文献第50-53页
附录第53页

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