首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--一般性问题论文--半导体器件制造工艺及设备论文--光刻、掩膜论文

光刻机软件自动化测试工具的设计与实现

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
1 绪论第11-20页
    1.1 软件自动化测试的优势第12-14页
    1.2 软件测试自动化在国内现状第14-15页
    1.3 软件测试自动化在国外现状第15-16页
    1.4 自动化测试过程第16-18页
    1.5 商用自动化测试工具调研第18-20页
2 光刻机软件概述第20-32页
    2.1 光刻机软件系统架构第20-22页
    2.2 光刻机软件系统范围第22-23页
    2.3 光刻机软件功能和业务分解第23-26页
    2.4 光刻机软件主要参数第26-30页
        2.4.1 ARAMS第27页
        2.4.2 OEE第27-28页
        2.4.3 Productivity第28-29页
        2.4.4 产出良率第29-30页
    2.5 光刻机软件异常恢复和数据采集第30-32页
3 测试工具设计需求第32-38页
    3.1 设计背景第32-33页
    3.2 测试方法第33-34页
    3.3 需求概述第34-35页
    3.4 工具总体设计第35-36页
    3.5 性能需求第36-38页
4 测试工具实现第38-59页
    4.1 整体框架设计第38-39页
    4.2 测试公共库模块第39-48页
        4.2.1 通讯模块第39-43页
        4.2.2 通信机制第43页
        4.2.3 数据处理第43-46页
        4.2.4 错误设计第46-47页
        4.2.5 拓展性第47-48页
    4.3 数据服务模块第48-50页
    4.4 代码生成模块第50-52页
    4.5 测试驱动模块第52-54页
    4.6 配置文件第54-55页
    4.7 测试需求、用例和数据第55-59页
        4.7.1 测试需求第55-56页
        4.7.2 测试用例第56-57页
        4.7.3 测试数据第57-59页
5 测试工具实际应用第59-73页
    5.1 测试实现第59-64页
        5.1.1 测试对象第59页
        5.1.2 测试风险和终止条件第59-61页
        5.1.3 测试需求和用例第61-63页
        5.1.4 测试数据第63-64页
    5.2 测试执行与结果分析第64-71页
        5.2.1 测试执行第64-65页
        5.2.2 测试分析和缺陷率第65-67页
        5.2.3 缺陷统计第67-71页
    5.3 工具可靠性评估与结论第71-73页
6 总结与展望第73-76页
    6.1 总结第73-74页
    6.2 展望第74-76页
7 致谢第76-77页
参考文献第77-78页

论文共78页,点击 下载论文
上一篇:3D视频中的深度视频编码研究
下一篇:SMT行业物料识别和跟踪管理的应用研究