| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第10-16页 |
| 1.1 研究的背景、方向 | 第10-12页 |
| 1.2 本文的立题意义 | 第12-13页 |
| 1.3 主要工作 | 第13-14页 |
| 1.4 论文的主要创新点 | 第14页 |
| 1.5 论文的结构 | 第14-16页 |
| 第二章 芯片系统概述以及设计理论 | 第16-22页 |
| 2.1 温度检测理论及框架 | 第16-18页 |
| 2.2 系统分析以及框图 | 第18-20页 |
| 2.3 设计目标 | 第20页 |
| 2.4 芯片的结构 | 第20-22页 |
| 第三章 详细理论以及电路实现 | 第22-52页 |
| 3.1 温度检测电路 | 第22-44页 |
| 3.1.1 温度产生电路误差的来源以及指标细化 | 第22-28页 |
| 3.1.2 温度检测电路详细设计 | 第28-41页 |
| 3.1.3 温度检测电路部分仿真结果 | 第41-44页 |
| 3.2 Sigma-deltaADC | 第44-50页 |
| 3.2.1 ΣΔADC 的基本原理 | 第45-48页 |
| 3.2.2 温度传感器系统中 Sigma-delta 调制器的实现 | 第48-50页 |
| 3.3 数字滤波器 | 第50-52页 |
| 3.3.1 数字滤波器概述 | 第50-51页 |
| 3.3.2 温度传感器中的数字滤波器 | 第51-52页 |
| 第四章 芯片的测试以及校准 | 第52-62页 |
| 4.1 芯片测试 | 第52-59页 |
| 4.1.1 测试系统 | 第52-53页 |
| 4.1.2 片内温度传感器的校准 | 第53-54页 |
| 4.1.3 测试难点以及克服办法 | 第54-57页 |
| 4.1.4 单点测试法原理 | 第57-59页 |
| 4.2 测试结果以及数据分析 | 第59-62页 |
| 4.2.1 256 阶 4nA 精度电流 trimming 电路测试结果 | 第59-60页 |
| 4.2.2 Sigma-delta ADC 测试结果 | 第60-61页 |
| 4.2.3 温度传感器芯片测试结果 | 第61-62页 |
| 第五章 结束语 | 第62-64页 |
| 5.1 主要工作与创新点 | 第62页 |
| 5.2 后续研究工作 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 攻读硕士学位期间已申请的专利 | 第67页 |
