| 摘要 | 第10-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 引言 | 第13-20页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第13-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 研究内容及目标 | 第17-18页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第18-20页 |
| 第二章 YHFT-XX芯片可测性设计分析 | 第20-34页 |
| 2.1 芯片测试意义 | 第20页 |
| 2.2 可测性设计方法 | 第20-24页 |
| 2.2.1 扫描设计 | 第21-22页 |
| 2.2.2 BIST设计 | 第22-23页 |
| 2.2.3 边界扫描设计 | 第23-24页 |
| 2.3 YHFT-XX芯片特点及设计流程 | 第24-25页 |
| 2.4 YHFT-XX可测性设计问题分析 | 第25-32页 |
| 2.4.1 测试功耗 | 第25-28页 |
| 2.4.2 故障覆盖率 | 第28-32页 |
| 2.4.3 面积开销 | 第32页 |
| 2.5 YHFY-XX芯片的DFT设计 | 第32-33页 |
| 2.6 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 YHFT-XX芯片低功耗扫描设计优化 | 第34-46页 |
| 3.1 扫描设计思想及测试过程 | 第34-36页 |
| 3.1.1 扫描设计思想 | 第34-35页 |
| 3.1.2 扫描测试过程 | 第35-36页 |
| 3.2 低功耗扫描设计分析 | 第36-37页 |
| 3.2.1 扫描设计中组合逻辑功耗分析 | 第36页 |
| 3.2.2 基于低功耗测试分块技术的测试访问结构分析 | 第36-37页 |
| 3.3 低功耗扫描设计 | 第37-39页 |
| 3.3.1 组合逻辑低功耗设计 | 第37-39页 |
| 3.3.2 实验及结果分析 | 第39页 |
| 3.4 基于低功耗测试分块技术的测试访问结构优化 | 第39-45页 |
| 3.4.1 Wrapper结构分析 | 第40-41页 |
| 3.4.2 测试访问结构优化方案 | 第41-44页 |
| 3.4.3 实验及结果分析 | 第44-45页 |
| 3.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 YHFT-XX芯片低功耗MBIST设计优化 | 第46-56页 |
| 4.1 MBIST设计思想及工作模式 | 第46-47页 |
| 4.1.1 MBIST设计思想 | 第46-47页 |
| 4.1.2 MBIST工作模式 | 第47页 |
| 4.2 MBIST设计分析 | 第47-49页 |
| 4.3 MBIST设计优化 | 第49-52页 |
| 4.3.1 旁路逻辑的元器件数目确定 | 第50-51页 |
| 4.3.2 旁路逻辑的元器件互连 | 第51-52页 |
| 4.3.3 旁路优化后的等价性检查 | 第52页 |
| 4.4 实验及结果分析 | 第52-55页 |
| 4.4.1 面积优化结果 | 第53-55页 |
| 4.4.2 功耗降低结果 | 第55页 |
| 4.4.3 数据结果分析 | 第55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 YHFT-XX芯片低功耗测试顶层设计 | 第56-72页 |
| 5.1 低功耗可测性设计的调度控制器 | 第56-60页 |
| 5.1.1 调度控制器结构设计 | 第56-58页 |
| 5.1.2 调度控制器工作原理 | 第58页 |
| 5.1.3 调度控制器的测试 | 第58-60页 |
| 5.1.4 基于调度控制器的机台测试步骤 | 第60页 |
| 5.2 低功耗扫描设计测试控制 | 第60-64页 |
| 5.2.1 控制器实现扫描测试控制的功能验证 | 第61-62页 |
| 5.2.2 扫描设计低功耗实验及结果分析 | 第62-64页 |
| 5.3 低功耗MBIST测试控制 | 第64-70页 |
| 5.3.1 控制器实现MBIST测试控制的功能验证 | 第65-66页 |
| 5.3.2 MBIST低功耗实验及结果分析 | 第66-67页 |
| 5.3.3 MBIST细粒度结果输出观测实验及结果分析 | 第67-69页 |
| 5.3.4 低功耗MBIST层次化设计 | 第69-70页 |
| 5.5 本章小结 | 第70-72页 |
| 第六章 结论与展望 | 第72-74页 |
| 6.1 结论 | 第72页 |
| 6.2 将来研究重点 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第79页 |
