CCD芯片关键性能参数的测量系统及其测量方法设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·课题研究背景与意义 | 第7-8页 |
| ·国内外课题研究现状 | 第8-11页 |
| ·本文研究内容 | 第11-13页 |
| 第二章 CCD 芯片关键性能参数 | 第13-23页 |
| ·CCD 芯片关键性能参数 | 第13-18页 |
| ·量子效率、线性度、灵敏度、噪声 | 第13-15页 |
| ·动态范围 | 第15-16页 |
| ·暗电流 | 第16页 |
| ·空间非均匀性 | 第16-18页 |
| ·EMVA1288 标准简介 | 第18-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 测量系统结构组成 | 第23-43页 |
| ·可调单色光源系统 | 第23-27页 |
| ·光源 | 第23-24页 |
| ·单色仪 | 第24-27页 |
| ·可调单色光源对光强损耗计算 | 第27页 |
| ·积分球-暗室系统 | 第27-35页 |
| ·积分球 | 第27-32页 |
| ·暗室 | 第32-33页 |
| ·积分球对光强损耗计算 | 第33-34页 |
| ·标准探测器 | 第34-35页 |
| ·杜瓦瓶温控室 | 第35-39页 |
| ·杜瓦瓶温控室内部结构 | 第36-38页 |
| ·PID 温控仪的工作原理 | 第38-39页 |
| ·主控电路系统与主控计算机 | 第39-42页 |
| ·CCD 驱动电路 | 第39-41页 |
| ·USB 通信电路 | 第41-42页 |
| ·主控计算机 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 参数测量方法流程 | 第43-53页 |
| ·测量方法流程概述 | 第43-44页 |
| ·量子效率和响应度的测量方法 | 第44-47页 |
| ·信噪比、动态范围、非线性度误差的测量方法 | 第47-49页 |
| ·暗电流与双倍温度常数的测量方法 | 第49-50页 |
| ·PRNU 和 DSNU 的测量方法 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 总结与展望 | 第53-57页 |
| ·本文完成的工作 | 第53-54页 |
| ·工作展望 | 第54-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 在读期间科研成果 | 第63-64页 |
