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CCD芯片关键性能参数的测量系统及其测量方法设计

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-7页
第一章 绪论第7-13页
   ·课题研究背景与意义第7-8页
   ·国内外课题研究现状第8-11页
   ·本文研究内容第11-13页
第二章 CCD 芯片关键性能参数第13-23页
   ·CCD 芯片关键性能参数第13-18页
     ·量子效率、线性度、灵敏度、噪声第13-15页
     ·动态范围第15-16页
     ·暗电流第16页
     ·空间非均匀性第16-18页
   ·EMVA1288 标准简介第18-21页
   ·本章小结第21-23页
第三章 测量系统结构组成第23-43页
   ·可调单色光源系统第23-27页
     ·光源第23-24页
     ·单色仪第24-27页
     ·可调单色光源对光强损耗计算第27页
   ·积分球-暗室系统第27-35页
     ·积分球第27-32页
     ·暗室第32-33页
     ·积分球对光强损耗计算第33-34页
     ·标准探测器第34-35页
   ·杜瓦瓶温控室第35-39页
     ·杜瓦瓶温控室内部结构第36-38页
     ·PID 温控仪的工作原理第38-39页
   ·主控电路系统与主控计算机第39-42页
     ·CCD 驱动电路第39-41页
     ·USB 通信电路第41-42页
     ·主控计算机第42页
   ·本章小结第42-43页
第四章 参数测量方法流程第43-53页
   ·测量方法流程概述第43-44页
   ·量子效率和响应度的测量方法第44-47页
   ·信噪比、动态范围、非线性度误差的测量方法第47-49页
   ·暗电流与双倍温度常数的测量方法第49-50页
   ·PRNU 和 DSNU 的测量方法第50-52页
   ·本章小结第52-53页
第五章 总结与展望第53-57页
   ·本文完成的工作第53-54页
   ·工作展望第54-57页
致谢第57-59页
参考文献第59-63页
在读期间科研成果第63-64页

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