首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--制造工艺论文

基于界面强度的系统级封装结构及工艺参数优化研究

摘要第1-4页
Abstract第4-9页
第一章 绪论第9-18页
   ·课题研究背景和意义第9-10页
   ·微电子封装技术的发展第10-11页
   ·系统级封装简介第11-14页
   ·系统级封装可靠性问题第14-16页
   ·论文研究现状第16-17页
   ·论文研究内容及创新点第17-18页
第二章 基础理论与数学模型第18-30页
   ·热–机械应力理论第18-20页
     ·热传导理论第18-19页
     ·热应力和热应变理论第19-20页
   ·界面断裂力学理论第20-24页
     ·裂纹的基本形式第20-21页
     ·能量释放率理论第21页
     ·J积分理论第21-24页
   ·试验设计简介第24-26页
     ·正交试验设计第24-25页
     ·均匀试验设计第25-26页
   ·回归分析与方差分析第26-29页
     ·回归分析第26-28页
     ·方差分析第28-29页
   ·本章小结第29-30页
第三章 环氧模塑封材料粘弹性特性研究第30-40页
   ·引言第30-31页
   ·模塑封材料的粘弹性本构方程第31-33页
   ·时温等效转换原理第33-34页
   ·模塑封材料的DMA实验第34-39页
     ·DMA实验原理第34页
     ·DMA实验过程及数据处理第34-39页
   ·本章小结第39-40页
第四章 SCSP器件热应力分析及结构参数优化研究第40-53页
   ·引言第40页
   ·系统级封装器件的有限元模型第40-44页
     ·SCSP器件结构及其尺寸第40-41页
     ·SCSP器件有限元网格划分第41-42页
     ·材料参数及加载条件第42-44页
   ·结果分析第44-46页
     ·系统级封装热应力分析第44-45页
     ·系统级封装器件翘曲分析第45-46页
     ·SCSP器件界面强度分析第46页
   ·系统级封装器件结构参数优选第46-52页
     ·各结构参数对SCSP器件可靠性的影响第47-49页
     ·均匀试验设计优选结构参数第49-50页
     ·回归分析第50-52页
   ·本章小结第52-53页
第五章 SCSP器件封装工艺参数优化研究第53-65页
   ·引言第53页
   ·系统级封装主要工艺过程第53-54页
   ·系统级封装器件主要工艺的有限元分析第54-58页
     ·加载曲线第54-55页
     ·SCSP封装工艺热应力模拟结果分析第55-57页
     ·SCSP封装工艺界面强度模拟及结果分析第57-58页
   ·系统级封装器件工艺参数优化组合第58-64页
     ·各工艺参数对SCSP器件可靠性的影响第58-60页
     ·均匀实验设计优选工艺参数第60-61页
     ·回归分析第61-64页
   ·本章小结第64-65页
第六章 克隆选择算法及其应用第65-74页
   ·引言第65页
   ·人工免疫理论研究现状第65-66页
   ·克隆选择算法简介第66-70页
     ·生物免疫系统简介第66-68页
     ·克隆选择算法基本原理第68-70页
   ·克隆选择算法优化SCSP器件结构及工艺参数第70-73页
     ·SCSP器件结构参数优化第70-72页
     ·SCSP器件工艺参数优化第72-73页
   ·本章小结第73-74页
第七章 论文总结与展望第74-77页
   ·论文总结第74-75页
   ·进一步研究的展望第75-77页
参考文献第77-80页
附录第80-89页
致谢第89-90页
作者在攻读硕士期间主要研究成果第90页

论文共90页,点击 下载论文
上一篇:面向传感器网络的密钥管理和入侵预防检测研究
下一篇:SO型芯片引脚共面性在线光电质检仪的设计与实现