首页--数理科学和化学论文--晶体学论文--晶体加工论文

碘化铯晶体的抛光研究

摘要第6-7页
abstract第7-8页
第1章 绪论第11-18页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第11-12页
    1.2 新型平面抛光技术简介第12-15页
    1.3 碘化铯晶体加工的现状第15页
    1.4 化学机械抛光技术的发展现状第15-16页
    1.5 碘化铯晶体的水解作用抛光技术的提出第16页
    1.6 论文的主要研究内容第16-18页
第2章 碘化铯晶体的物理特性第18-24页
    2.1 碘化铯晶体概述第18-21页
        2.1.1 碘化铯晶体的性质第18-19页
        2.1.2 碘化铯晶体的结构和应用领域第19-20页
        2.1.3 碘化铯晶体的发光性能和生长方法第20-21页
    2.2 水解现象简介第21-22页
    2.3 碘化铯晶体水解作用下的抛光材料去除机制第22-23页
    2.4 水解作用的控制技术第23页
    2.5 本章小结第23-24页
第3章 碘化铯晶体的水解抛光实验研究第24-42页
    3.1 碘化铯晶体水解抛光的抛光液研究第24-32页
        3.1.1 对抛光液性能的要求第24-25页
        3.1.2 水解抛光的抛光液成分选用第25-27页
        3.1.3 表面活性剂的选用第27-32页
    3.2 碘化铯晶体水解抛光实验的设备材料与条件过程第32-34页
        3.2.1 实验设备与材料第32-33页
        3.2.2 实验条件与过程第33-34页
    3.3 碘化铯晶体水解抛光中输入变量对材料去除率和表面粗糙度的影响第34-40页
        3.3.1 影响碘化铯晶体水解抛光中的变量参数第34页
        3.3.2 抛光前的研磨预加工第34-35页
        3.3.3 抛光液配比对材料去除率和表面粗糙度的影响第35-37页
        3.3.4 抛光时间对材料去除率和表面粗糙度的影响第37-38页
        3.3.5 抛光盘转速对材料去除率和表面粗糙度的影响第38-39页
        3.3.6 抛光压强对材料去除率和表面粗糙度的影响第39-40页
    3.4 本章小结第40-42页
第4章 碘化铯晶体无水解抛光的实验研究第42-57页
    4.1 碘化铯晶体无水解抛光中的磨料种类第42-44页
    4.2 氧化铈抛光粉对碘化铯晶体的无水解抛光影响第44-49页
        4.2.1 氧化铈抛光粉的性质第44-46页
        4.2.2 CeO2磨料含量对材料去除率和表面粗糙度的影响第46-47页
        4.2.3 抛光盘转数对材料去除率和表面粗糙度的影响第47-48页
        4.2.4 抛光压强对材料去除率和表面粗糙度的影响第48-49页
    4.3 二氧化硅抛光粉对碘化铯晶体无水解抛光的影响第49-53页
        4.3.1 二氧化硅抛光粉的性质第49-50页
        4.3.2 SiO_2磨料含量对材料去除率和表面粗糙度的影响第50-52页
        4.3.3 抛光盘转数对材料去除率和表面粗糙度的影响第52页
        4.3.4 抛光压强对材料去除率和表面粗糙度的影响第52-53页
    4.4 无水解抛光后的表面形貌分析第53-55页
    4.5 本章小结第55-57页
结论第57-59页
参考文献第59-65页
攻读硕士学位期间发表的论文和获得的科研成果第65-66页
致谢第66-67页

论文共67页,点击 下载论文
上一篇:多晶硅还原炉流场与温度场数值仿真研究
下一篇:基于牵制控制协议的多智能体系统群一致跟踪控制研究