摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
1 绪论 | 第12-20页 |
1.1 前言 | 第12-13页 |
1.2 国内外研究现状 | 第13-16页 |
1.2.1 角度传感器的研究现状 | 第13-15页 |
1.2.2 时栅不确定度的研究现状 | 第15-16页 |
1.3 课题的来源、目的和意义 | 第16-17页 |
1.4 课题的主要研究内容 | 第17页 |
1.5 本章小结 | 第17-20页 |
2 寄生式时栅传感器简介 | 第20-26页 |
2.1 测量原理 | 第20-21页 |
2.2 寄生式时栅简介 | 第21-23页 |
2.2.1 寄生式时栅的信号发生部分 | 第21-22页 |
2.2.2 寄生式时栅的信号处理部分 | 第22-23页 |
2.3 测量不确定度理论 | 第23-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-26页 |
3 寄生式时栅误差和不确定度来源理论分析 | 第26-44页 |
3.1 寄生式时栅角位移传感器感应电行波公式的理论推导 | 第27-28页 |
3.2 行波信号产生部分不确定度来源分析与归纳 | 第28-38页 |
3.2.1 激励电源幅值A的误差源分析 | 第28-29页 |
3.2.2 激励电源频率ω的误差源分析 | 第29页 |
3.2.3 激励线圈、感应线圈匝数N_1N_2的误差源分析 | 第29页 |
3.2.4 测头、转子径向端面间隙δ的误差源分析 | 第29-32页 |
3.2.5 测头、转子相对面积S的误差源分析 | 第32-35页 |
3.2.6 磁力线穿过的测头、转子铁芯长度l的误差源分析 | 第35-36页 |
3.2.7 空气、铁芯磁导率μ_0 μ的误差源分析 | 第36-38页 |
3.3 行波信号处理部分不确定度来源分析 | 第38-41页 |
3.3.1 整形电路的误差源分析 | 第38-39页 |
3.3.2 高频插补脉冲电路的误差源分析 | 第39-40页 |
3.3.3 电源电路的误差源分析 | 第40页 |
3.3.4 合成行波高次谐波误差来源分析 | 第40-41页 |
3.4 其他种类不确定度来源分析 | 第41-43页 |
3.5 本章小结 | 第43-44页 |
4 寄生式时栅行波信号主次影响因素的仿真与分析 | 第44-52页 |
4.1 线圈匝数的影响 | 第44-45页 |
4.2 激励信号幅值和频率的影响 | 第45-48页 |
4.2.1 激励信号幅值变动的影响 | 第46页 |
4.2.2 激励信号频率变动的影响 | 第46-48页 |
4.3 测头、转子端面气隙宽度的影响 | 第48-49页 |
4.4 铁芯总长度的影响 | 第49-50页 |
4.5 测头、转子相对面积的影响 | 第50-51页 |
4.6 本章小结 | 第51-52页 |
5 寄生式时栅测量不确定度的实际评定 | 第52-58页 |
5.1 插补脉冲个数误差引起的不确定度评定 | 第52-53页 |
5.2 插补脉冲信号量化误差引起的不确定度评定 | 第53-54页 |
5.3 行波信号周期变化引起的不确定度评定 | 第54页 |
5.4 环境变化引起的不确定度评定 | 第54-55页 |
5.5 测量不确定度合成及评定结果分析 | 第55页 |
5.6 本章小结 | 第55-58页 |
6 寄生式时栅测量不确定度实验验证 | 第58-70页 |
6.1 测量不确定度来源分析的验证实验 | 第58-63页 |
6.1.1 实验系统设计 | 第58-60页 |
6.1.2 间隙安装误差的验证实验 | 第60-61页 |
6.1.3 激励电源幅值误差验证实验 | 第61-62页 |
6.1.4 激励电源相位误差验证实验 | 第62页 |
6.1.5 激励电源频率误差验证实验 | 第62-63页 |
6.2 测量不确定度评定实验方案的研究 | 第63-69页 |
6.2.1 实验装置及测试设备简介 | 第64-65页 |
6.2.2 各不确定度分量的测试 | 第65-69页 |
6.3 本章小结 | 第69-70页 |
结论与展望 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
致谢 | 第76-78页 |
作者简介及读研期间主要科研成果 | 第78页 |