基于低功耗高速瞬态响应OTA的高可靠抗辐射接口电路设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第9-10页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第10-11页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第11-12页 |
| 第二章 基于RS-422协议的接口模块电路设计 | 第12-34页 |
| 2.1 RS-422协议接口模块 | 第12-16页 |
| 2.1.1 RS-422通信接口系统 | 第12-14页 |
| 2.1.2 RS-422接收器模块 | 第14-16页 |
| 2.2 低功耗高瞬态OTA设计 | 第16-23页 |
| 2.2.1 传统的运算跨导放大器 | 第16-18页 |
| 2.2.2 非线性电流镜 | 第18-19页 |
| 2.2.3 交叉耦合对技术 | 第19-20页 |
| 2.2.4 动态尾电流控制技术 | 第20页 |
| 2.2.5 基于动态尾电流的OTA电路设计与验证 | 第20-23页 |
| 2.3 输入输出结构设计 | 第23-24页 |
| 2.3.1 输入结构 | 第23-24页 |
| 2.3.2 输出结构 | 第24页 |
| 2.4 R8-422协议接口电路设计 | 第24-32页 |
| 2.5 小结 | 第32-34页 |
| 第三章 ESD设计 | 第34-44页 |
| 3.1 全芯片ESD设计 | 第34页 |
| 3.2 VDD与GND之间的ESD设计 | 第34-35页 |
| 3.3 输出端口ESD设计 | 第35-36页 |
| 3.4 差分输入端口ESD设计 | 第36-41页 |
| 3.4.1 ESD摸底试验及失效分析 | 第36-37页 |
| 3.4.2 差分输入端口分析 | 第37-38页 |
| 3.4.3 差分输入端口ESD设计 | 第38-41页 |
| 3.5 全芯片ESD设计流片验证 | 第41-44页 |
| 第四章 抗辐射加固设计 | 第44-52页 |
| 4.1 抗总剂量(TID)加固设计 | 第44-45页 |
| 4.2 抗单粒子辐射加固设计 | 第45-52页 |
| 4.2.1 建模与仿真 | 第45-48页 |
| 4.2.2 优化思路 | 第48-51页 |
| 4.2.3 电路优化 | 第51-52页 |
| 第五章 版图设计、验证及后仿真 | 第52-66页 |
| 5.1 版图设计中所用版次说明 | 第52-53页 |
| 5.2 版图设计 | 第53-59页 |
| 5.2.1 版图设计基本原则 | 第53-54页 |
| 5.2.2 匹配 | 第54页 |
| 5.2.3 闩锁效应 | 第54-55页 |
| 5.2.4 偏置及启动电路版图设计 | 第55-56页 |
| 5.2.5 OTA电路版图设计 | 第56-58页 |
| 5.2.6 RS-422协议接口模块版图设计 | 第58-59页 |
| 5.3 版图验证 | 第59-62页 |
| 5.3.1 DRC检查 | 第59-60页 |
| 5.3.2 LVS验证 | 第60-62页 |
| 5.4 后仿真 | 第62-66页 |
| 5.4.1 OTA静态电流后仿真 | 第62页 |
| 5.4.2 OTA交流后仿真 | 第62-63页 |
| 5.4.3 OTA瞬态后仿真 | 第63页 |
| 5.4.4 RS-422协议接口模块电路后仿真 | 第63-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 6.1 总结 | 第66页 |
| 6.2 展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第72页 |
