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双界面智能卡数模混合电路的仿真技术研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
缩略语对照表第11-14页
第一章 绪论第14-20页
    1.1 课题背景及研究意义第14-15页
    1.2 数模混合电路仿真发展现状第15-17页
    1.3 研究内容和章节安排第17-20页
第二章 仿真验证相关理论及关键技术第20-32页
    2.1 ISO/IEC14443—TypeA协议第20-26页
        2.1.1 读卡机和卡片之间信号传输原理第20-21页
        2.1.2 卡片的状态和转换第21-22页
        2.1.3 信号传输的帧格式第22-23页
        2.1.4 PCD传送到PICC的信号第23-25页
        2.1.5 PICC传送到PCD的信号第25-26页
    2.2 哈希结构第26-28页
        2.2.1 哈希基本原理第26-27页
        2.2.2 keys和values函数第27页
        2.2.3 嵌套哈希第27-28页
    2.3 正则表达式第28-30页
        2.3.1 使用正则表达式进行匹配第28-29页
        2.3.2 使用正则表达式处理文本第29-30页
    2.4 本章小结第30-32页
第三章 双界面智能卡数模混合电路仿真环境的搭建第32-54页
    3.1 双界面智能卡数模混合电路研究第32-35页
    3.2 新环境搭建思路第35-38页
        3.2.1 总结旧环境仿真流程第35页
        3.2.2 文件重新分类第35-38页
    3.3 新环境划分为功能块第38-40页
    3.4 新环境的实现第40-50页
        3.4.1 嵌套哈希结构第41-42页
        3.4.2 功能块的协调第42-43页
        3.4.3 功能块的实现第43-50页
    3.5 新环境中仿真流程第50-52页
        3.5.1 新环境中准备测试例步骤第51页
        3.5.2 新环境中仿真步骤第51-52页
    3.6 本章小结第52-54页
第四章 双界面智能卡片的系统功能仿真第54-76页
    4.1 双界面智能卡初始化和抗冲突流程的仿真第54-60页
        4.1.1 可重用读卡机发送指令模块的设计第54-56页
        4.1.2 新环境中测试例的搭建第56-57页
        4.1.3 仿真结果的分析第57-60页
    4.2 双界面智能卡ACTIVE状态的仿真第60-67页
        4.2.1 验证方法的设计第60-61页
        4.2.2 仿真结果的分析第61-67页
    4.3 双界面智能卡低压时钟频率自适应功能的仿真第67-71页
        4.3.1 时钟自适应功能的原理第67-68页
        4.3.2 测试激励供电模块的设计第68-69页
        4.3.3 仿真结果的分析第69-71页
    4.4 双界面智能卡测试模式下数据校验的仿真第71-75页
        4.4.1 数据校验原理及验证方法设计第72-74页
        4.4.2 仿真结果的分析第74-75页
    4.5 本章小结第75-76页
第五章 总结与展望第76-78页
    5.1 论文总结第76-77页
    5.2 研究展望第77-78页
参考文献第78-80页
致谢第80-82页
作者简介第82-83页

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