| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-11页 |
| ·数据采集的意义和任务 | 第8页 |
| ·研究内容概述 | 第8-9页 |
| ·A/D转换技术的发展状况 | 第9-10页 |
| ·本文所做的主要工作和本文结构 | 第10-11页 |
| 第二章 数据采集的基本理论 | 第11-20页 |
| ·数据采集过程 | 第11页 |
| ·采样 | 第11-15页 |
| ·量化与量化误差 | 第15-20页 |
| 第三章 并行时间交替采样 ADC的时间误差测量与校正 | 第20-37页 |
| ·并行时间交替 ADC采样系统的结构 | 第20-21页 |
| ·并行时间交替采样的频谱 | 第21-24页 |
| ·通道失配误差的测量 | 第24-29页 |
| ·算法仿真 | 第29-36页 |
| ·测量算法的仿真 | 第29-33页 |
| ·增益和偏置误差测量仿真 | 第30-31页 |
| ·时间误差测量仿真 | 第31-33页 |
| ·校正算法的仿真 | 第33-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 第四章 两片ADC构成ZOOM采集系统的设计与实现 | 第37-54页 |
| ·系统方案设计 | 第37-42页 |
| ·器件选择 | 第37-41页 |
| ·A/D芯片 | 第37-38页 |
| ·FPGA芯片 | 第38-39页 |
| ·单片机芯片 | 第39-41页 |
| ·系统工作原理 | 第41-42页 |
| ·系统实现 | 第42-54页 |
| ·A/D变换的实现 | 第42-45页 |
| ·模拟输入电路 | 第42页 |
| ·孔径抖动对电路的影响 | 第42-43页 |
| ·时钟输入电路 | 第43-44页 |
| ·电源、接地和去耦 | 第44-45页 |
| ·对采样单元电路 PCB板的考虑 | 第45页 |
| ·FPGA的实现 | 第45-49页 |
| ·FPGA资源消耗 | 第46页 |
| ·开关模块 | 第46-47页 |
| ·RAM模块 | 第47页 |
| ·控制模块 | 第47-48页 |
| ·校正模块 | 第48-49页 |
| ·单片机的实现 | 第49-54页 |
| ·单片机 C语言 | 第49-50页 |
| ·MSP430F149I/O端口 | 第50页 |
| ·MSP430F149存储器特点 | 第50-51页 |
| ·单片机计算精度 | 第51页 |
| ·软件实现 | 第51-54页 |
| 第五章 系统测试结果及分析 | 第54-66页 |
| ·ADC的动态参数 | 第54-55页 |
| ·A/D转换器动态参数的测试方法 | 第55-58页 |
| ·频域能量的泄漏问题 | 第56-57页 |
| ·FFT测试应具备的条件 | 第57-58页 |
| ·本系统测试方案及硬件要求 | 第58-59页 |
| ·测试结果分析 | 第59-66页 |
| 结束语 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录实物照片 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 个人简历 | 第73页 |