某型MCU中掩膜ROM设计
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·课题的背景及意义 | 第7-8页 |
·存储器的现状和发展 | 第8-10页 |
·本文主要工作 | 第10-13页 |
第二章 掩膜ROM存储器的基本原理 | 第13-29页 |
·存储器的总体结构和单元模块 | 第13-16页 |
·只读存储器内核 | 第16-20页 |
·ROM单元—概述 | 第16-18页 |
·ROM存储器编程 | 第18-20页 |
·存储器外围电路 | 第20-24页 |
·地址译码器 | 第20-23页 |
·灵敏放大器 | 第23-24页 |
·存储器成品率 | 第24-25页 |
·存储器中的功耗 | 第25-26页 |
·存储器中功耗的来源 | 第25-26页 |
·降低工作功耗 | 第26页 |
·本章小结 | 第26-29页 |
第三章 基于Flat-Cell工艺的ROM设计 | 第29-43页 |
·存储器设计要点 | 第31-32页 |
·Flat-Cell工艺特点及单元结构 | 第32-34页 |
·Flat-CellROM存储阵列结构设计 | 第34-36页 |
·地址译码器 | 第36-38页 |
·灵敏放大器 | 第38-39页 |
·Flat-Cell工艺的相关技术问题 | 第39-40页 |
·本章小结 | 第40-43页 |
第四章 ROM模块的仿真及测试 | 第43-53页 |
·ROM模块的仿真及结果 | 第43-47页 |
·ROM的内建自测试 | 第47-51页 |
·存储器的测试方法 | 第47-49页 |
·存储器内建自测试的要求与目标 | 第49-50页 |
·ROM内建自测试的算法 | 第50-51页 |
·本章小结 | 第51-53页 |
第五章 总结与展望 | 第53-55页 |
·总结 | 第53-54页 |
·展望 | 第54-55页 |
致谢 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
附录 | 第59-71页 |