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某型MCU中掩膜ROM设计

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-13页
   ·课题的背景及意义第7-8页
   ·存储器的现状和发展第8-10页
   ·本文主要工作第10-13页
第二章 掩膜ROM存储器的基本原理第13-29页
   ·存储器的总体结构和单元模块第13-16页
   ·只读存储器内核第16-20页
     ·ROM单元—概述第16-18页
     ·ROM存储器编程第18-20页
   ·存储器外围电路第20-24页
     ·地址译码器第20-23页
     ·灵敏放大器第23-24页
   ·存储器成品率第24-25页
   ·存储器中的功耗第25-26页
     ·存储器中功耗的来源第25-26页
     ·降低工作功耗第26页
   ·本章小结第26-29页
第三章 基于Flat-Cell工艺的ROM设计第29-43页
   ·存储器设计要点第31-32页
   ·Flat-Cell工艺特点及单元结构第32-34页
   ·Flat-CellROM存储阵列结构设计第34-36页
   ·地址译码器第36-38页
   ·灵敏放大器第38-39页
   ·Flat-Cell工艺的相关技术问题第39-40页
   ·本章小结第40-43页
第四章 ROM模块的仿真及测试第43-53页
   ·ROM模块的仿真及结果第43-47页
   ·ROM的内建自测试第47-51页
     ·存储器的测试方法第47-49页
     ·存储器内建自测试的要求与目标第49-50页
     ·ROM内建自测试的算法第50-51页
   ·本章小结第51-53页
第五章 总结与展望第53-55页
   ·总结第53-54页
   ·展望第54-55页
致谢第55-57页
参考文献第57-59页
附录第59-71页

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