应变硅细—微观实验测量表征
中文摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
字母注释表 | 第11-13页 |
第一章 绪论 | 第13-20页 |
1.1 研究背景及意义 | 第13-16页 |
1.2 国内外研究动态 | 第16-18页 |
1.3 本文的主要工作 | 第18-20页 |
第二章 应变硅材料及其横截面样品的制备 | 第20-37页 |
2.1 应变硅材料的制备 | 第20-22页 |
2.2 应变硅的清洗 | 第22-25页 |
2.3 应变硅横截面样品的制备 | 第25-36页 |
2.4 本章小结 | 第36-37页 |
第三章 应变硅结构物性的多尺度实验分析 | 第37-52页 |
3.1 应变硅横截面样品的表面粗糙度测量 | 第37-39页 |
3.2 应变硅多层结构的材料物质分布实验分析 | 第39-44页 |
3.3 应变硅横截面样品的弹性模量变化规律测量 | 第44-45页 |
3.4 应变硅材料纳观结构的TEM分析 | 第45-51页 |
3.5 本章小结 | 第51-52页 |
第四章 应变硅的微拉曼力学分析 | 第52-67页 |
4.1 微拉曼实验 | 第52-54页 |
4.2 应变硅表面样品的微拉曼实验 | 第54-60页 |
4.3 应变硅横截面样品的微拉曼实验 | 第60-66页 |
4.4 本章小结 | 第66-67页 |
第五章 总结与展望 | 第67-69页 |
5.1 工作总结 | 第67页 |
5.2 进一步展望 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-76页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-78页 |