基于幂次划分和分块编码的SoC测试数据压缩方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| ·SoC 测试概述 | 第12-13页 |
| ·SoC 测试研究的意义 | 第13-14页 |
| ·SoC 测试方法研究现状 | 第14-15页 |
| ·本文创新点及结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 数字集成电路测试基础知识介绍 | 第17-26页 |
| ·SoC 测试基础 | 第17-19页 |
| ·测试原理 | 第17-18页 |
| ·测试方法的应用 | 第18-19页 |
| ·SoC 测试数据编码压缩方法 | 第19-22页 |
| ·游程码 | 第19-20页 |
| ·Golomb 码 | 第20-21页 |
| ·FDR 码 | 第21-22页 |
| ·SoC 测试功耗分析 | 第22-26页 |
| ·功耗产生的原因 | 第22-23页 |
| ·功耗的衡量指标 | 第23-24页 |
| ·降低功耗的方法 | 第24-26页 |
| 第三章 基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方法 | 第26-34页 |
| ·两种基于划分的测试数据压缩方法 | 第26-29页 |
| ·基于折半划分的测试数据压缩方法 | 第26-27页 |
| ·基于幂次数划分的测试数据压缩方法 | 第27-29页 |
| ·基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方法 | 第29-33页 |
| ·基本思想 | 第29页 |
| ·编码规则及编码实例 | 第29-31页 |
| ·解码电路 | 第31-32页 |
| ·实验结果 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 基于分块编码的LFSR 重播种方法 | 第34-42页 |
| ·LFSR 基础知识 | 第34-37页 |
| ·LFSR 基本结构 | 第34-35页 |
| ·LFSR 重播种基本原理 | 第35-37页 |
| ·基于分块编码的LFSR 重播种方法 | 第37-41页 |
| ·基本思想 | 第37页 |
| ·编码算法描述及编码实例 | 第37-38页 |
| ·解码电路 | 第38-40页 |
| ·实验结果 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 总结与展望 | 第42-44页 |
| ·总结全文 | 第42-43页 |
| ·未来的工作 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-49页 |
| 附录 | 第49-50页 |
| 附录一：攻读硕士学位期间发表的论文 | 第49页 |
| 附录二：攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第49-50页 |
