| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 课题研究背景及近况 | 第7-11页 |
| 1.1.1 可测性设计 | 第8-9页 |
| 1.1.2 可测性设计方法 | 第9-10页 |
| 1.1.3 常见DFT方案比较 | 第10-11页 |
| 1.2 内建自测试MBIST | 第11-12页 |
| 1.3 本文主要工作内容 | 第12-13页 |
| 第二章 存储器故障模型 | 第13-26页 |
| 2.1 嵌入式存储器概述 | 第13-15页 |
| 2.1.1 嵌入式存储器结构组成 | 第13-14页 |
| 2.1.2 嵌入式存储器工作原理 | 第14-15页 |
| 2.2 嵌入式存储器故障模型 | 第15-19页 |
| 2.3 基于故障原语的推理分析 | 第19-24页 |
| 2.3.1 单一单元故障分析 | 第20-21页 |
| 2.3.2 双单元故障分析 | 第21-24页 |
| 2.4 存储器故障诊断算法分析 | 第24-26页 |
| 2.4.1 Checkerboard算法 | 第24-25页 |
| 2.4.2 Gallop算法 | 第25页 |
| 2.4.3 March算法 | 第25-26页 |
| 第三章 内建自测试MBIST基本原理 | 第26-39页 |
| 3.1 内建自测试MBIST工作流程 | 第26-32页 |
| 3.2 March算法及变种 | 第32-39页 |
| 3.2.1 MATS算法 | 第35-36页 |
| 3.2.2 March C算法 | 第36-39页 |
| 第四章 一种新型March C-D算法的原理及仿真验证 | 第39-53页 |
| 4.1 一种新March算法的提出 | 第39-41页 |
| 4.2 仿真软件Modelsim简介 | 第41-42页 |
| 4.3 基于March C-D算法的MBIST电路实现 | 第42-46页 |
| 4.4 March C-D仿真验证 | 第46-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-53页 |
| 第五章 总结与展望 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56页 |