基于ARM7的数据记录仪设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 引言 | 第15页 |
| 1.2 国内外数据记录仪的研究发展概况 | 第15-17页 |
| 1.2.1 国外研究状况 | 第15-16页 |
| 1.2.2 国内研究状况 | 第16-17页 |
| 1.3 课题背景及意义 | 第17页 |
| 1.4 本文主要工作及内容组织 | 第17-21页 |
| 第二章 总体方案设计 | 第21-35页 |
| 2.1 总体方案的技术分析 | 第21-25页 |
| 2.1.1 主要技术要求 | 第21-23页 |
| 2.1.2 系统功能分解 | 第23-24页 |
| 2.1.3 数据记录仪的选型 | 第24-25页 |
| 2.1.4 系统抗过载分析 | 第25页 |
| 2.2 总体设计 | 第25-27页 |
| 2.2.1 组成 | 第25-26页 |
| 2.2.2 功能 | 第26-27页 |
| 2.3 系统硬件 | 第27-31页 |
| 2.3.1 ARM嵌入式系统 | 第27-29页 |
| 2.3.2 ARM嵌入式系统总体设计 | 第29-31页 |
| 2.4 系统软件 | 第31-33页 |
| 2.4.1 μC/OS-II实时操作系统 | 第31页 |
| 2.4.2 μC/OS-Ⅱ实时操作系统总体设计 | 第31-33页 |
| 2.5 本章小节 | 第33-35页 |
| 第三章 数据记录仪硬件设计 | 第35-47页 |
| 3.1 系统的硬件组成和工作原理 | 第35-36页 |
| 3.1.1 硬件组成 | 第35-36页 |
| 3.1.2 工作原理 | 第36页 |
| 3.2 主控电路设计 | 第36-40页 |
| 3.2.1 LPC2294的特点 | 第37-38页 |
| 3.2.2 LPC2294的内部结构 | 第38-39页 |
| 3.2.3 LPC2294为核心的最小系统 | 第39-40页 |
| 3.3 模拟采集模块设计 | 第40-42页 |
| 3.3.1 AD采集芯片 | 第41页 |
| 3.3.2 调理电路 | 第41-42页 |
| 3.4 电容放电信号采集 | 第42-43页 |
| 3.5 存储模块设计 | 第43-44页 |
| 3.6 USB接口 | 第44-45页 |
| 3.7 本章小节 | 第45-47页 |
| 第四章 数据记录仪软件设计 | 第47-61页 |
| 4.1 μC/OS-Ⅱ操作系统的应用 | 第47-49页 |
| 4.1.1 基于μC/OS-Ⅱ系统设计 | 第47-48页 |
| 4.1.2 基于μC/OS-Ⅱ任务划分 | 第48-49页 |
| 4.1.3 μC/OS-Ⅱ在ARM的移植 | 第49页 |
| 4.2 采集、传输判断模块 | 第49-51页 |
| 4.3 模拟采集模块 | 第51-52页 |
| 4.4 数字信号接收模块 | 第52页 |
| 4.5 数据组织模块 | 第52-54页 |
| 4.6 数据存储模块 | 第54-58页 |
| 4.6.1 铁电RAM程序 | 第54-55页 |
| 4.6.2 FLASH写入程序 | 第55-56页 |
| 4.6.3 FLASH控制程序 | 第56-57页 |
| 4.6.4 系统初始化 | 第57-58页 |
| 4.7 数据传输和人机界面 | 第58-59页 |
| 4.8 本章小节 | 第59-61页 |
| 第五章 数据记录仪可靠性设计 | 第61-69页 |
| 5.1 硬件的可靠性设计 | 第61-66页 |
| 5.1.1 可靠度计算 | 第61-62页 |
| 5.1.2 硬件的可靠性措施 | 第62-65页 |
| 5.1.3 电磁兼容性设计 | 第65-66页 |
| 5.2 软件的可靠性设计 | 第66-68页 |
| 5.2.1 软件工程化管理 | 第66页 |
| 5.2.2 软件设计中的问题及解决方法 | 第66-68页 |
| 5.3 本章小节 | 第68-69页 |
| 第六章 系统调试和测试 | 第69-77页 |
| 6.1 系统调试流程 | 第69-70页 |
| 6.2 系统调试及测试方法 | 第70-73页 |
| 6.2.1 调试及测试环境 | 第70-71页 |
| 6.2.2 模拟采集通道 | 第71-72页 |
| 6.2.3 SPI接口调试 | 第72页 |
| 6.2.4 程序下载及调试 | 第72页 |
| 6.2.5 数据存储调试 | 第72-73页 |
| 6.2.6 USB接口调试 | 第73页 |
| 6.3 系统环境试验 | 第73-75页 |
| 6.3.1 低温工作 | 第73-74页 |
| 6.3.2 高温工作 | 第74页 |
| 6.3.3 振动 | 第74页 |
| 6.3.4 冲击 | 第74-75页 |
| 6.4 测试结果 | 第75-77页 |
| 第七章 结论 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-83页 |
| 作者简介 | 第83-84页 |
