基于散射原理的激光粒度测试仪研究
| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·粒度检测的意义 | 第10页 |
| ·粒度检测的主要方法和发展现状及趋势 | 第10-15页 |
| ·粒度检测的主要方法及特点 | 第10-13页 |
| ·光散射法粒度检测技术研究现状 | 第13-14页 |
| ·粒度检测技术发展趋势 | 第14-15页 |
| ·本文研究的目的和主要内容 | 第15-16页 |
| 第二章 Mie 散射理论与系统测试原理 | 第16-32页 |
| ·颗粒光散射理论 | 第16-20页 |
| ·光的散射、吸收与消光 | 第16-17页 |
| ·振幅函数和强度函数 | 第17-20页 |
| ·Mie 散射理论 | 第20-27页 |
| ·Mie 散射理论基本公式 | 第20-21页 |
| ·Mie 散射光强的计算 | 第21-24页 |
| ·Mie 散射光强模拟 | 第24-27页 |
| ·散射式激光粒度仪测量颗粒粒径原理 | 第27-28页 |
| ·激光粒度分析的傅立叶光学原理 | 第28-29页 |
| ·多重散射和不相关单散射 | 第29-30页 |
| ·常用代表粒度的特征数值 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第三章 激光粒度仪总体设计 | 第32-46页 |
| ·激光粒度仪基本结构 | 第32-33页 |
| ·光路系统设计 | 第33-38页 |
| ·激光器 | 第33-34页 |
| ·滤波—准制阔束系统 | 第34-36页 |
| ·傅立叶变换透镜 | 第36-37页 |
| ·样品循环系统 | 第37-38页 |
| ·多元光电探测阵列设计 | 第38-43页 |
| ·光路系统结构参数 | 第43-44页 |
| ·信号采集、传输、处理系统 | 第44-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 第四章 光能矩阵及粒度分布反演算法 | 第46-62页 |
| ·光能矩阵的计算 | 第46-53页 |
| ·特征粒径的计算 | 第46页 |
| ·光能矩阵计算 | 第46-53页 |
| ·激光粒度仪粒度分布反演算法 | 第53-60页 |
| ·分布函数限定法（非独立模式法） | 第53-54页 |
| ·无模式反演算法（独立模式法） | 第54-58页 |
| ·对P-T 算法的改进 | 第58-60页 |
| ·P-T 算法与本文算法的比较实验 | 第60页 |
| ·小结 | 第60-62页 |
| 第五章 粒度分析软件及实验结果和误差分析 | 第62-75页 |
| ·粒度分析软件设计 | 第62-63页 |
| ·湿法粒度测试实验结果和分析 | 第63-67页 |
| ·干法粒度测试实验结果和分析 | 第67-70页 |
| ·影响测量的误差因素分析 | 第70-73页 |
| ·光学系统中的误差因素 | 第70-73页 |
| ·探测器及数据采集处理电路引入的误差因素 | 第73页 |
| ·软件系统中的误差 | 第73页 |
| ·小结 | 第73-75页 |
| 第六章 结束语 | 第75-77页 |
| ·本文工作总结 | 第75-76页 |
| ·今后的工作展望 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第81页 |
