| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-30页 |
| ·片状铝粉的分类及应用 | 第11-13页 |
| ·片状铝粉的分类 | 第11-12页 |
| ·片状铝粉的应用 | 第12-13页 |
| ·片状铝粉制备技术的研究现状 | 第13-14页 |
| ·片状铝粉的表面改性研究现状 | 第14-22页 |
| ·包覆改性法 | 第15-18页 |
| ·着色改性法 | 第18-22页 |
| ·其它改性法简介 | 第22页 |
| ·彩色铝粉的性能研究 | 第22-25页 |
| ·漂浮性能和遮盖屏蔽性能 | 第23页 |
| ·彩色铝粉的光学性能 | 第23-25页 |
| ·片状铝粉的SiO_2包覆理论 | 第25-28页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第28-29页 |
| ·本文的研究内容 | 第29-30页 |
| 第二章 实验方法和分析手段 | 第30-36页 |
| ·实验试剂及仪器设备 | 第30-31页 |
| ·实验方法 | 第31-33页 |
| ·片状铝粉表面包覆SiO_2的实验 | 第31-32页 |
| ·片状铝粉包覆颜料和SiO_2膜层着色实验 | 第32-33页 |
| ·样品测试与表征 | 第33-36页 |
| ·粒度测定与表示 | 第33页 |
| ·铝粉粒子分散性测试 | 第33-34页 |
| ·析氢实验 | 第34-35页 |
| ·扫描电镜(SEM)结合能谱仪(EDS)分析 | 第35页 |
| ·X射线衍射仪(XRD)分析 | 第35页 |
| ·X射线光电子能谱仪(XPS)分析 | 第35-36页 |
| 第三章 片状铝粉的SiO_2包覆研究 | 第36-51页 |
| ·实验结果及影响因素讨论 | 第36-45页 |
| ·反应时间对包覆效果影响的研究 | 第36页 |
| ·反应温度对包覆效果影响的研究 | 第36-39页 |
| ·TEOS用量影响的研究 | 第39-40页 |
| ·水硅比影响的研究 | 第40-43页 |
| ·催化剂用量影响的研究 | 第43-45页 |
| ·SiO_2/Al复合粒子的性能研究及表征 | 第45-50页 |
| ·水中分散性测试 | 第45页 |
| ·SiO_2/Al复合粒子的粒度分布 | 第45-47页 |
| ·X射线衍射仪(XRD)分析 | 第47页 |
| ·光电子能谱(XPS)分析 | 第47-48页 |
| ·SiO_2/Al复合粒子的扫描电镜及能谱(EDS)分析 | 第48-50页 |
| ·SiO_2/Al复合粒子的截面结构 | 第50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 片状铝粉的着色研究 | 第51-62页 |
| ·颜料与SiO_2同步沉积包覆法着色 | 第51-55页 |
| ·样品的直观分析 | 第51-52页 |
| ·X射线光电子能谱仪(XPS)分析 | 第52-53页 |
| ·扫描电镜(SEM)结合能谱仪(EDS)分析 | 第53-55页 |
| ·颜料与SiO_2分步沉积包覆着色 | 第55-58页 |
| ·添加剂用量对颜料沉积效果的影响 | 第55页 |
| ·TEOS用量对着色效果的影响 | 第55-56页 |
| ·X射线衍射仪(XRD)分析 | 第56页 |
| ·X射线光电子能谱仪(XPS)分析 | 第56-57页 |
| ·扫描电镜(SEM)结合能谱仪(EDS)分析 | 第57-58页 |
| ·水中分散性和析氢测试 | 第58页 |
| ·两种着色方法的比较 | 第58-59页 |
| ·片状铝粉包覆着色机理的研究 | 第59-61页 |
| ·颜料颗粒与铝粉颗粒的吸附沉积机理 | 第59-60页 |
| ·SiO_2与酞菁蓝颜料的共沉积机理 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 结论及展望 | 第62-63页 |
| ·本文结论 | 第62页 |
| ·展望 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 附录 | 第68页 |