基于漏磁检测的缺陷评估方法的研究
摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第14-20页 |
1.1 研究背景和意义 | 第14-15页 |
1.2 漏磁检测技术的研究现状 | 第15-18页 |
1.2.1 检测方法理论研究 | 第15-17页 |
1.2.2 检测装置仪器研究 | 第17-18页 |
1.3 本文研究内容 | 第18-20页 |
1.3.1 主要问题 | 第18页 |
1.3.2 研究内容和方法 | 第18-19页 |
1.3.3 本文创新点 | 第19-20页 |
第二章 漏磁检测技术理论基础 | 第20-27页 |
2.1 电磁学理论基础 | 第20-23页 |
2.1.1 Maxwell方程组 | 第20-21页 |
2.1.2 铁磁性材料的磁化过程 | 第21-22页 |
2.1.3 恒定磁场的边界条件 | 第22-23页 |
2.2 漏磁检测技术 | 第23-26页 |
2.2.1 漏磁检测技术原理 | 第23-24页 |
2.2.2 磁路分析 | 第24-25页 |
2.2.3 提离效应分析 | 第25页 |
2.2.4 速度效应分析 | 第25-26页 |
2.2.5 脉冲漏磁检测技术 | 第26页 |
2.3 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 漏磁检测有限元仿真与分析 | 第27-46页 |
3.1 有限元分析法 | 第27-28页 |
3.2 恒定激励漏磁检测仿真分析 | 第28-38页 |
3.2.1 二维仿真分析 | 第28-32页 |
3.2.2 激励对漏磁场的影响 | 第32-33页 |
3.2.3 提离效应分析 | 第33-34页 |
3.2.4 速度效应分析 | 第34-38页 |
3.3 脉冲激励漏磁检测仿真分析 | 第38-45页 |
3.3.1 涡流效应对激励的影响 | 第39-40页 |
3.3.2 样本内部磁场与涡流分布 | 第40-41页 |
3.3.3 上表面缺陷分析 | 第41-42页 |
3.3.4 下表面缺陷分析 | 第42页 |
3.3.5 过冲现象产生原因分析 | 第42-43页 |
3.3.6 影响过冲现象的因素 | 第43-45页 |
3.4 本章小结 | 第45-46页 |
第四章 脉冲漏磁检测实验系统 | 第46-56页 |
4.1 漏磁检测探头设计 | 第46-48页 |
4.1.1 磁化方式 | 第46-47页 |
4.1.2 磁场传感器 | 第47-48页 |
4.2 系统硬件设计 | 第48-52页 |
4.2.1 数据采集 | 第48-49页 |
4.2.2 功率放大电路 | 第49-50页 |
4.2.3 信号调理电路 | 第50-51页 |
4.2.4 电源模块 | 第51-52页 |
4.3 基于LabVIEW的虚拟仪器设计 | 第52-55页 |
4.3.1 脉冲信号发生 | 第53-54页 |
4.3.2 数据采集处理 | 第54-55页 |
4.4 本章小结 | 第55-56页 |
第五章 脉冲漏磁检测实验与缺陷评估方法的研究 | 第56-77页 |
5.1 钢板样本介绍与实验过程 | 第56-58页 |
5.1.1 样本介绍 | 第56页 |
5.1.2 实验过程 | 第56-58页 |
5.2 参数设置 | 第58-61页 |
5.2.1 不同激励参数 | 第58-60页 |
5.2.2 不同提离值 | 第60-61页 |
5.3 实验结果分析 | 第61-66页 |
5.3.1 上表面缺陷检测 | 第62-64页 |
5.3.2 下表面缺陷检测 | 第64-65页 |
5.3.3 运动检测实验 | 第65-66页 |
5.4 脉冲漏磁信号频谱分析 | 第66-67页 |
5.5 基于三维仿真结果的缺陷参数评估 | 第67-76页 |
5.5.1 三维有限元仿真 | 第67-71页 |
5.5.2 仿真与实验结果对比 | 第71-72页 |
5.5.3 基于等值线图的缺陷参数评估 | 第72-74页 |
5.5.4 基于神经网络的缺陷参数评估 | 第74-76页 |
5.6 本章小结 | 第76-77页 |
第六章 总结与展望 | 第77-80页 |
6.1 全文总结 | 第77页 |
6.2 研究展望 | 第77-80页 |
参考文献 | 第80-84页 |
致谢 | 第84-85页 |
在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第85页 |