基于线结构光视觉传感器的孔径测量研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 引言 | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 选题背景 | 第9页 |
| 1.2 三维视觉测量概述 | 第9-11页 |
| 1.3 国内外三维视觉测量技术研究现状 | 第11-12页 |
| 1.4 课题主要研究内容 | 第12-15页 |
| 第2章 硬盘底座孔径的三维模型测量 | 第15-39页 |
| 2.1 系统的测量原理模型及设备选型 | 第15-21页 |
| 2.1.1 三角激光数学模型 | 第15-17页 |
| 2.1.2 测量基本原理 | 第17-18页 |
| 2.1.3 设备选型 | 第18-21页 |
| 2.2 测量系统的参数标定 | 第21-31页 |
| 2.2.1 相机参数标定 | 第21-26页 |
| 2.2.2 相机光平面标定 | 第26-28页 |
| 2.2.3 运动位姿标定 | 第28-29页 |
| 2.2.4 实验标定结果 | 第29-31页 |
| 2.3 光条图像处理及中心提取 | 第31-37页 |
| 2.3.1 线结构光光条图像预处理 | 第31-35页 |
| 2.3.2 线结构光光条中心提取 | 第35-37页 |
| 2.4 硬盘底座的三维重构 | 第37-38页 |
| 2.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第3章 强反射面的图像处理 | 第39-50页 |
| 3.1 强反射表面的特性分析 | 第40-42页 |
| 3.2 分数阶微分的理论基础 | 第42-47页 |
| 3.2.1 分数阶微分定义 | 第43-44页 |
| 3.2.2 分数阶微分的性质 | 第44-46页 |
| 3.2.3 分数阶微分图像处理 | 第46-47页 |
| 3.3 基于分数阶微分的强反射区处理 | 第47-49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 硬盘圆孔孔径计算 | 第50-62页 |
| 4.1 边缘检测 | 第50-56页 |
| 4.1.1 边缘检测算子 | 第50-54页 |
| 4.1.2 亚像素级边缘检测 | 第54-56页 |
| 4.2 圆孔的边缘提取 | 第56-57页 |
| 4.3 圆孔边缘的孔径计算 | 第57-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 硬盘孔径测量系统及数据分析 | 第62-65页 |
| 5.1 测量系统 | 第62-64页 |
| 5.2 数据分析 | 第64页 |
| 5.3 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 导师简介 | 第70-71页 |
| 作者简介 | 第71-72页 |
| 学位论文数据集 | 第72页 |
