摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 论文的研究背景与研究意义 | 第10-11页 |
1.2 红外铟镓砷焦平面用读出电路的发展现状 | 第11-13页 |
1.3 论文的主要内容及结构 | 第13-15页 |
第二章 短波红外铟镓砷焦平面用读出电路设计基础 | 第15-26页 |
2.1 短波红外铟镓砷焦平面探测器工作原理 | 第15页 |
2.2 探测器芯片与读出电路芯片的连接 | 第15页 |
2.3 短波红外铟镓砷焦平面读出电路的结构以及工作方式 | 第15-16页 |
2.4 读出电路的性能指标 | 第16-17页 |
2.4.1 读出速率 | 第16页 |
2.4.2 注入效率 | 第16-17页 |
2.4.3 动态范围 | 第17页 |
2.4.4 噪声 | 第17页 |
2.4.5 功耗 | 第17页 |
2.4.6 灵敏度 | 第17页 |
2.5 读出电路输入级常用结构 | 第17-20页 |
2.6 读出电路的各个部分 | 第20-24页 |
2.6.1 采样电路 | 第20-21页 |
2.6.2 输出级 | 第21-23页 |
2.6.3 移位寄存器 | 第23页 |
2.6.4 缓冲级 | 第23-24页 |
2.7 读出电路的噪声分析 | 第24-25页 |
2.7.1 输入级噪声 | 第24页 |
2.7.2 复位KTC噪声 | 第24-25页 |
2.7.3 测试过程引入的噪声 | 第25页 |
2.8 本章小结 | 第25-26页 |
第三章 红外铟镓砷焦平面探测器用64×64元高灵敏度低噪声读出电路设计 | 第26-49页 |
3.1 积分电容与高灵敏度 | 第26-27页 |
3.2 小积分电容与噪声的关系 | 第27-28页 |
3.3 复位开关管 | 第28-30页 |
3.4 输入级积分运放 | 第30-34页 |
3.5 相关双采样电路 | 第34-37页 |
3.6 移位寄存器 | 第37-39页 |
3.7 列缓冲级 | 第39-44页 |
3.8 总线缓冲级 | 第44-45页 |
3.9 输入PAD的缓冲电路 | 第45-47页 |
3.10 ESD保护电路 | 第47页 |
3.11 本章小结 | 第47-49页 |
第四章 读出电路整体仿真与版图设计工艺 | 第49-60页 |
4.1 读出电路的单元电路仿真 | 第49-51页 |
4.2 读出电路整体仿真 | 第51-53页 |
4.3 单元结构版图 | 第53-54页 |
4.4 缓冲级版图 | 第54-56页 |
4.5 行列移位寄存器版图 | 第56页 |
4.6 短波红外铟镓砷焦平面用64×64元读出电路的整体版图 | 第56-57页 |
4.7 MOM电容 | 第57-59页 |
4.8 本章小结 | 第59-60页 |
第五章 测试与分析 | 第60-61页 |
5.1 测试系统 | 第60页 |
5.2 噪声测试 | 第60-61页 |
第六章 总结和展望 | 第61-63页 |
6.1 总结 | 第61-62页 |
6.2 展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
附录 | 第68页 |