| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 引言 | 第9-15页 |
| 1.1.1 辐射环境 | 第9-12页 |
| 1.1.2 辐射效应 | 第12-13页 |
| 1.1.3 现代航空航天对抗辐射加固技术的需求 | 第13-15页 |
| 1.2 辐射效应加固技术研究现状 | 第15-18页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第16-18页 |
| 1.3 论文选题依据及主要研究内容 | 第18-19页 |
| 第2章 单粒子瞬态效应研究基础 | 第19-34页 |
| 2.1 单粒子瞬态效应研究理论基础 | 第19-27页 |
| 2.1.1 单粒子效应与单粒子瞬态效应 | 第19-23页 |
| 2.1.2 单粒子瞬态效应机理 | 第23-26页 |
| 2.1.3 单粒子瞬态效应研究中的量化表述 | 第26-27页 |
| 2.2 单粒子瞬态效应研究软硬件基础 | 第27-34页 |
| 2.2.1 软件简介 | 第28-32页 |
| 2.2.2 硬件简介 | 第32-34页 |
| 第3章 保护漏加固结构模拟仿真 | 第34-45页 |
| 3.1 保护漏加固结构特征简介 | 第34-35页 |
| 3.2 保护漏加固结构工作原理 | 第35-36页 |
| 3.3 保护漏加固结构模型 | 第36-39页 |
| 3.4 保护漏加固结构在 45 nm工艺节点失效 | 第39-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-45页 |
| 第4章 漏墙加固结构模拟仿真 | 第45-57页 |
| 4.1 漏墙加固结构特征简介 | 第45-46页 |
| 4.2 漏墙加固结构工作原理 | 第46-47页 |
| 4.3 漏墙加固结构模型 | 第47-48页 |
| 4.4 漏墙加固结构对单粒子瞬态效应的影响 | 第48-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-57页 |
| 第5章 绝缘体上漏源加固结构模拟仿真 | 第57-65页 |
| 5.1 绝缘体上漏源加固结构特征简介 | 第57-58页 |
| 5.2 绝缘体上漏源加固结构工作原理 | 第58-59页 |
| 5.3 绝缘体上漏源加固结构模型 | 第59-60页 |
| 5.4 绝缘体上漏源加固结构对单粒子瞬态效应的影响 | 第60-63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-65页 |
| 第6章 总结与展望 | 第65-68页 |
| 6.1 论文总结 | 第65-67页 |
| 6.2 工作展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 个人简历、攻读学位期间发表的论文目录 | 第75页 |